Page 51 - 无损检测2024年第九期

试验研究
试验研究

DOI：10.11973/wsjc240047

工业 CT 伪像的产生原因和影响规律分析

丛龙丹，邹昱临，施美圆，刘一斐，计益利
（上海飞机制造有限公司，上海 201324）

摘 要：伪像是工业CT检测图像上必不可少的存在，有些伪像在CT物理学和数学中是固有、
不可消除的，有些伪像可通过改变工艺参数来减弱或消除。通过伪像参考试件，介绍了几种工业
CT检测图像中常见伪像的产生原因，并将参数进行调整以减弱伪像的影响。试验结果表明，工业
CT伪像的产生原因与滤波片、放大倍数、采样张数、旋转中心校准、软件校正及被检样品夹具等因
素有关。
关键词：伪像；工业CT；参考试件；射线照相

中图分类号：TG115.28 文献标志码：A 文章编号：1000-6656(2024)09-0017-05

Analysis on the causes and influencing laws of industrial CT artifacts

CONG Longdan, ZOU Yulin, SHI Meiyuan, LIU Yifei, JI Yili
（Shanghai Aircraft Manufacturing Co.,Ltd., shanghai 201324, China）
Abstract: Artifacts are essential in industrial CT images. Some artifacts are inherent and cannot be eliminated in CT
physics and mathematics, while others can be weakened or eliminated by changing process parameters.Therefore, the
authors introduced the causes of several common artifacts in industrial CT images by using artifact reference block, and
reduced the influence of artifacts by adjusting parameters.The results showed that the causes of artifacts in industrial CT
were related to factors such as filters, magnification, number of sampling sheets, calibration of rotation centers, software
calibration, and fixtures for the tested samples.
Key words: artifact; industrial CT; reference block; radiography

工业 CT 检测技术作为一种先进的无损检测 质上更易产生伪像，甚至可以说是不可避免的，这
技术，具有成像直观、分辨率高、目标特征不受周 是因为反投影过程是将投影中的一点映射为图像
围细节特征遮挡等优点 [1-4] 。其不受试件材料种类、 中的一条直线，不同于射线照相投影读数的一个误
形状和表面状况等限制，可直接给出试件的几何 差，仅限于局部区域。伪像是CT检测图像上必不
结构、密度特性，直接获取缺陷的位置、形貌、尺 可少的存在，其限制了从图像中定量提取信息的能
寸，实现检测结果数字化存储，解决现有常规射线 力，可被看作是一种广义的噪声。有些伪像是固有
检测技术可达性差、人工依赖性高、污染重、胶片 的、不可消除的，有些是可以通过改变参数来减弱
存放等问题。 或消除的，无论是固有伪像还是可减弱或消除的伪
在工业CT检测技术不断发展的同时，CT图像 像，均需要先对其进行识别，因此文章通过伪像参
中的伪像越来越受到人们的关注。伪像是 CT图像 考试件，简单介绍几种工业CT检测图像上常见的
上出现的与被测物体物理特征不相符的图像信息， 伪像及其产生原因，并同时通过调整参数来消除或
是一种“干扰”。相比于射线照相技术，CT检测本 减弱伪像的影响。

1 试验方法
收稿日期：2024-01-29
作者简介：丛龙丹（1993—），女，硕士，工程师，主要从事射线检测、
参考GB/T 41123. 2—2021《无损检测 工业射
光学检测等方向的研究工作
通信作者：丛龙丹，conglongdan@comac.cc 线计算机层析成像检测 第2部分：操作和解释》制
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2024 年 第 46 卷 第 9 期
无损检测