Page 55 - 无损检测2024年第九期
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丛龙丹,等:

              工业 CT 伪像的产生原因和影响规律分析























                               图 11  运动伪像                                     图 12  夹具固定后图像
                                                   表6  运动伪像检测参数
                 管电压/kV        管电流/μA       采样时间/ms        采样张数/张          放大倍数       滤波片厚度/mm       滤波片材料
                    350           380          1 000          1 440          4             2            Sn






















                          图 13  投影不足引起的伪像                                  图 14  增大投影数量后 CT 图像

                                              表7  投影不足引起的伪像检测参数
                 序号      管电压/kV       管电流/μA      采样时间/ms       采样张数/张        放大倍数     滤波片厚度/mm      滤波片材料
                  1         350         380          1 000         360          4            2          Sn
                  2         350         380          1 000        1 440         4            2          Sn

              状、尺寸及射线穿透的最大厚度来选择滤波片(包括                                based  comparison  method[J]. NDT  &  E  International,
              材料及厚度)、放大倍数、采样张数、旋转中心校准、                               2011,44(6):531-536.
              软件校正及合适的被检样品夹具等来尽可能减少伪                              [3]  郭志平,董宇峰. 工业CT技术[J]. 无损检测,1996,
              像,以提高检测图像质量。                                           18(1):27-30.
                                                                  [4]  倪培君,李旭东. 工业X射线CT的应用[C]//全国加
              参考文献:                                                  速器无损检测设备及其应用技术交流会论文集. 北京:
                [1]  齐子诚,倪培君,张维国,等. 工业  CT  检测中小缺陷                   中国物理学会,1998:36-42.
                   定量方法[J]. 科学技术与工程,2021,21(3):958-964.           [5]  张益海,张催,潘小东,等. 锥束工业CT射束硬化校正
                [2]  STAUDE  A,BARTSCHER  M,EHRIG  K,et  al.         方法[J]. 无损检测,2017,39(6):8-12.
                   Quantification  of  the  capability  of  micro-CT  to  detect     [6]  杨光,高嘉保,韩瑞. 基于深度学习建立模型去除工业
                   defects  in  castings  using  a  new  test  piece  and  a  voxel-  CT伪影的技术研究[J]. 无损探伤,2023,47(3):18-22.



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                                                                                                  无损检测
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