Page 117 - 无损检测2024年第五期
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仪器研制
DOI : 10.11973 / ws j c202405014
一种基于 ASMEV 的管状校准试块的优化
刘立胜, 黄雪波, 李鹏频, 邵文京, 吴年云
( 海洋石油工程股份有限公司, 青岛 266520 )
摘 要: 通过结合 ASMEV 第4章中关于超声波检测对于管状校准试块的技术要求, 介绍了
一种基于 ASMEV 的管状校准试块的优化, 主要优化了管状校准试块的样式、 管径及其加工、 试块
厚度、 反射体、 长度、 端头型式等参数, 优化设计后能够减少试块的数量和质量, 利于携带, 对工程实
践应用有一定的实用价值。
关键词: 校准试块; 样式; 管径; 厚度; 反射体; 端角
中图分类号: TG115.28 文献标志码: A 文章编号: 1000-6656 ( 2024 ) 05-0 075-05
O p timizationof p i p ecalibrationblockbasedonASMEV
LIULishen g HUANGXuebo , LIPen gp in , SHAO Wen j in g WUNian y un
,
,
( OffshoreOilEn g ineerin gCo. , Ltd. , Qin g dao266520 , China )
Abstract : Combinedwiththerelevanttechnicalre q uirementsofASMEVarticle4for p i p ecalibrationblocks ,
this p a p ero p timizedthep i p ecalibrationblock ’ sp attern , diameterandfabrication , blockthicknessselection ,
reflectorselection , ended g et yp eandotherp arameters , andtheo p timizeddesi g nedcalibrationp i p eblockcan
reducethenumberand wei g htofthecalibrationblock , which wasconducivetocarr y in gandhadacertain
p racticalvalue.
Ke ywords : calibrationblock ; t yp e ; diameter ; thickness ; reflector ; ended g e
ASMEBPVC第 V 卷( 以下简称规范) 第 4 章 大角度二次声程覆盖的 DAC ( 距离波幅曲线) 或
指出对于检测面直径小于等于500mm 的工件, 超 TCG ( 距离增益补偿曲线) 校准要求, 试块在纵向和
声检测时需要使用曲面校准试块, 在第 T434节详 环向两个方向的尺寸会很大, 导致试块质量成倍增
细规定了管状校准试块的样式、 材料、 管径覆盖、 加, 不利于搬运和携带。
反射体形状和尺寸等参数, 其图 T-434.3-1和图 T- ( 3 )试块端头与表面槽或近表面孔的距离较
434.3-2 列举了两种常见管状校准 试 块 的 样 式。 小, 其反射回波会影响 PAUT ( 相控阵超声检测) 的
如果仅按照规范 ASMEBPVC 第 V 卷第4章所允 TCG 校准。在 PAUT 的 TCG 校准中, 仪器闸门通
许的下限参数进行试块尺寸设计和制作而不加以 过自动搜索某一深度范围内的最高波幅来确定增益
改进和优化, 极有可能给加工的试块带来以下几 参考点。端头回波深度与试块表面槽或近表面孔的
个问题。 回波深度非常相近, 且端头回波高度一般高于反射
( 1 )试块同时包含了轴向和周向反射体, 试块 体回波高度, 导致参考点选择出现错误, 进而造成
的长度和宽度都较大, 而在实际生产中仅利用了一 TCG 校准错误 [ 1 ] 。当为了避免两者回波发生混淆
小部分, 利用率不高。 而增加端头与反射体的水平距离时, 试块的长度和
( 2 )当试块厚度较大时, 为了满足超声波探头
质量必然会过大。
( 4 )单一试块所覆盖的厚度范围过小, 如果要
收稿日期: 2023-10-31
满足管径为24~500mm 、 厚度为 6~50mm 的检
作者简介: 刘立胜( 1984- ), 男, 本科, 工程师, 主要从事海洋工
程无损检测方面的研究工作 验需求, 最少需要16块试块才能覆盖整个范围的校
通信作者: 黄雪波, 394663747@ qq .com 准要求, 加工试块数量过多, 增加加工费用。
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2024年 第46卷 第5期
无损检测
