Page 46 - 无损检测2025年第一期
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阮隽宇，等：
基于缺陷漏磁信号特征值的管道缺陷量化分析
2.1 缺陷长度对漏磁信号的影响 缺陷上方1 mm处设置二维截线，进行模拟检测（取
矩形缺陷是检测过程中最常见的一种缺陷，缺 1 mm的提离值），以此截线上的磁通密度（磁感应强
陷深度固定为管道试件厚度的50％，长度分别为1， 度）大小作为传感器输出的漏磁信号，计算得出不
2，3，4，5，6 mm（缺陷编号分别为1，2,3,4,5,6），在 同长度缺陷的漏磁信号曲线如图3所示。
图 3 不同长度缺陷的磁感应强度曲线
由图 3 可知，当缺陷深度尺寸固定，缺陷的长 由式（6）可知，缺陷长度L与径向磁通分量峰
度逐渐增加时，轴向磁通分量的信号波形宽度逐渐 值间距x 之间近似为线性关系，通过式（6）可量化
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变大，信号中心发生“塌陷”，信号峰值逐渐降低； 缺陷长度。
径向磁通分量的峰值间距不断变大且变化非常明 2.2 缺陷深度对漏磁信号的影响
显，因此径向磁通分量峰值间距与缺陷长度存在正 缺陷长度固定为 4 mm，缺陷深度分别设置为
比例的关系。结合仿真数据得到缺陷长度L与径向 模拟管道试件厚度的12. 5%，25%，37. 5%，50%，
磁通分量峰值间距x 的量化模型为
1 62. 5%，80%（缺陷编号分别为1，2,3,4,5,6），求解
x
L =1.096 3 -0.890 6 （6） 得到不同缺陷深度的漏磁信号曲线如图4所示。
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图 4 不同深度缺陷的磁感应强度曲线
由图4可知，在相同励磁条件与相同提离值的 值变大，但变化不明显且较为缓慢，难以判断该变化
情况下，缺陷长度固定，随着缺陷深度的增加，轴向 与缺陷尺寸之间的联系，经过对比得出轴向磁通分
磁通分量的幅值变大，因此轴向磁通分量峰值与缺 量的变化特征较明显，结合仿真数据得到缺陷深度
陷深度之间呈正比例关系；径向磁通分量的波形峰 D与轴向磁通分量峰值x 的量化模型为
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2025 年 第 47 卷 第 1 期
无损检测
