Page 128 - 无损检测2024年第十期

叶永魁，等：

磁粉检测试片不同缺陷槽的功能探讨

磁化后，一些角度朝向上的缺陷槽显示磁痕。测量
所有显示磁痕线性缺陷槽所形成的最大夹角（即1
次磁化有效检出缺陷的角度范围δ）即可计算出最
少磁化次数N，对试片进行1次磁化后的磁痕显示如
图4所示。鉴于所有现行试片的线性缺陷槽仅有一
字型和十字型槽，无法满足1次磁化有效检出缺陷
的角度范围δ 测量的要求，因此无法用于最少磁化
次数N的计算。

图 3 磁化方向与线性缺陷槽呈 45°角时两次相互垂直磁化
后线性缺陷槽的磁痕显示（无磁痕）
内偏离磁化方向45°角朝向上的检测灵敏度。这种
情况下进行2次相互垂直的磁化，即使试片相互垂
直的两个线性缺陷槽都显示磁痕，也不能说明偏离
磁化方向45°角朝向上的检测灵敏度满足要求，从而
可能导致缺陷的漏检。
姚力等 用“弧形磁痕端点测定法”试验，得出
[2]
“部分试片磁化后45°角方向的圆形缺陷槽无法显示
磁痕”的试验结果及“在大多数实际的磁粉检测工作
中，用单磁轭在一个检测方向达到基本的探伤灵敏度 图 4 对试片进行 1 次磁化后的磁痕显示（实线部分）
的要求（即≥45°） 并不是一件容易的事”的结论。笔 最少磁化次数N的计算公式为
者用“弧形磁痕端点测定法”试验，得出“部分试验 N= 1+(360° /2 ·δ 的取整值 ) （1）
存在漏检区域” ，也都证明了这种情况的存在。 式中：加上1是为了确保几次磁化区域有一定的重
[3]
这说明，根据国内外几个主要磁粉检测标准 叠，避免出现漏检区域；“360°/2 ·δ 的取整值”是指
（GB/T 26951—2011，ISO 17638:2003，GJB 2028A— “360°/2 ·δ”为非整数时，除去小数值直接取整。
2007，NB/T 47013. 4—2015）的规定，在一个平面 综上所述，现行试片的线性缺陷槽是否适合作为
检测区域内进行方向相互垂直的磁化时，如用现行 灵敏度试片的缺陷槽需要商榷。
磁粉检测试片线性缺陷槽进行检测灵敏度验证，即
使与磁化方向相垂直的试片线性缺陷槽磁化后显示 2 圆形缺陷槽验证检测灵敏度
磁痕（即磁场强度满足要求，其灵敏度也满足要求）， 利用试片圆形缺陷槽进行检测灵敏度验证，其
偏离磁化方向的有些角度朝向上的检测灵敏度有时 原理与线性缺陷槽的基本相同，是利用与磁场磁化
并不满足要求，而可能导致缺陷的漏检。 方向基本垂直的部分圆形缺陷槽磁化后是否显示
为避免漏检，可提高磁场强度或增加磁化次数。 磁痕来验证的。由第 1 节的分析可知，根据国内外
如提高磁场强度但仍仅进行2次磁化，需使用能验 几个主要磁粉检测标准（GB/T 26951—2011，ISO
证偏离磁场方向45°角朝向上的检测灵敏度满足要 17638:2003，GJB 2028A—2007，NB/T 47013. 4—
求的试片。但现行试片无45°角朝向的线性缺陷槽， 2015）规定进行2次相互垂直的磁化时，用现行磁粉
实际工作中难以验证偏离磁场方向45°角朝向上的 检测试片圆形缺陷槽在一个平面检测区域进行检测
检测灵敏度是否满足要求。如增加磁化次数，需测 灵敏度验证，即使利用试片验证了磁场强度满足要
算最少磁化次数N以避免漏检，这要求试片需有朝 求，偏离磁场磁化方向的有些角度朝向上的检测灵
向不同角度方向的线性缺陷槽。这样的试片经1次 敏度有时并不满足要求。也就是说，采用2次相互
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2024 年 第 46 卷 第 10 期
无损检测