Page 130 - 无损检测2024年第十期
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叶永魁,等:

              磁粉检测试片不同缺陷槽的功能探讨

              不会产生像现行试片的缺陷槽设计不够合理而导致                            作为灵敏度试片的缺陷槽需要商榷。
              检测灵敏度验证失效的问题;同时利用该试片,能很                               (3)所提多角度缺陷槽磁粉检测试片能在一个
              简便地进行1次磁化有效检出缺陷的角度范围的测                            平面检测区域内对各个角度方向检测灵敏度进行有
              算并计算出最少磁化次数以避免漏检。因此,多角                            效验证;同时其能很简便地进行1次磁化有效检出
              度缺陷槽磁粉检测试片比所有现行试片更适合作为                            缺陷的角度范围测算进而计算最少磁化次数以避免
              磁粉检测灵敏度试片。                                        漏检,适合作为灵敏度试片。

              4  结论                                             参考文献:

                 (1)现行磁粉检测试片线性缺陷槽,配合单磁                            [1]  叶永魁,侯海彬,刘海涛,等.磁场方向与试片磁痕显示
                                                                     关系的试验[C]//中国机械工程学会无损检测分会第
              化方向磁粉探伤机进行检测灵敏度验证时,偏离磁
                                                                     十二届年会论文集.上海:中国机械工程学会无损检测
              场磁化方向的有些角度朝向上的检测灵敏度验证有
                                                                     分会,2023.
              时是失效的,可能导致漏检;同时现行磁粉检测试片
                                                                  [2]  姚力,马学荣.关于磁粉探伤极限检测角的实验与分
              线性缺陷槽,难以用于1次磁化有效检出缺陷的角                                 析[J].无损探伤,1996,20(3):39-40.
              度范围测算进而计算最少磁化次数,其是否适合作                              [3]  叶永魁,侯海彬,杨璋,等.磁轭检测中磁化次数与漏检
              为灵敏度试片的缺陷槽需要商榷。                                        率关系的试验[C]//2023远东无损检测新技术论坛论
                 (2) 现行磁粉检测试片圆形缺陷槽,配合单磁化                             文集.天津: 远东无损检测新技术论坛,2023.
              方向磁粉探伤机进行检测灵敏度验证时,偏离磁场磁                             [4]  刘毓秀.关于磁化场方向的试验[J].无损检测,1995,
                                                                     17(7):196-197.
              化方向的有些角度朝向上的检测灵敏度验证有时是
                                                                  [5]  叶永魁,李旺,侯海彬,等 .  磁粉检测试片:
              失效的,可能导致漏检;同时现行磁粉检测试片圆形
                                                                     CN215493316U[P]. 2022.
              缺陷槽,实际工作中难以用于1次磁化有效检出缺陷                             [6]  叶永魁,李旺,侯海彬,等 . C 型磁粉检测试片:
              的角度范围测算进而计算最少磁化次数,其是否适合                                CN215641010U[P]. 2022.












































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                     2024 年 第 46 卷 第 10 期
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