Page 109 - 无损检测2024年第五期
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周国正, 等:

   基于多频涡流技术的燃料棒包壳管氧化膜厚度测量方法

                                                     3.3 氧化膜厚度多频测量结果分析
                                                       基于非线性规划的优化思想, 采用多起始点计
                                                     算, 即计算并比较多个起始点的值, 以避免单个起始
                                                     点陷入局部最优的情况, 有助于获取全局最优解。
                                                     该非线性规划算法在 MATLAB环境中执行。

                                                                                       -1  为例, 构建
                                                          以包壳管电导率为 1.25mS · m

                                                     金属涂层d 分别为7 , 13 , 14 , 17 , 19 μ m 的样品仿真
                                                     模型, 包壳管电导率等其他参数同理。分别计算上
                                                     述24个激励频率下线圈测量氧化膜厚度h 为2~

                                                     10 μ m 的输出信号幅值。将输出信号幅值代入已知
                                                     的函数关系中, 计算相应的氧化膜厚度h' , 结果如
                                                     表 7 所 示, 可 见, 氧 化 膜 厚 度 计 算 的 绝 对 误 差

                                                     |h'-h| 平均值为0.2207 μ m , 最大值小于1 μ m 。
                                                              表7 氧化膜厚度的测量值( h' )                μ m
                                                                               d
                                                        h
                                                               7      13      14      17      19

                                                        2    2.3312  2.2743  2.1909  2.0588  1.7411

                                                        3    3.3590  3.1815  3.2951  3.1379  2.9798
       图7 线圈输出信号幅值与激励频率的关系曲线
                                                        4    4.4063  4.2552  4.2063  4.1072  3.8408

                                                        5    5.3397  5.2181  5.3221  5.0873  4.8109

                                                        6    6.4419  6.2219  6.2506  6.1875  5.7044

                                                        7    7.2248  7.2806  7.2291  7.0123  6.8826

                                                        8    8.3608  8.2435  8.2964  8.0803  7.9913

                                                        9    9.2429  9.2647  9.3325  9.0958  8.8557

                                                       10   10.3210 10.2665 10.2681 10.1094  9.7645
                                                     4 试验验证
                                                       根据以上仿真结果, 制备燃料棒包壳管氧化膜
                                                     厚度测量探头, 其实物如图9所示。该探头由两个
       图8 Δ f o 和激励频率及金属涂层厚度的关系曲线
                                                     线圈和一个陶瓷骨架组成, 两个线圈分别固定在陶
   3.2 氧化膜厚度多频测量算法                                   瓷骨架两侧。在测量过程中, 靠近燃料棒表面的线
     假设氧化膜厚度h 和线圈输出信号幅值X 满
                                                     圈为测量线圈, 远离燃料棒表面的线圈为参考线圈。
   足一个函数关系 ( x ) =h 。其中 X 为二维数组, 分
                 f
                                                     为了避免两个线圈参数不同而引起的误差, 测量线
   别为多频激励下线圈输出信号幅值的实部、 虚部。
                                                     圈与参考线圈各参数保持一致, 其内径为4.0mm 、
  h 与X 的关系还会受到金属涂层厚度d 和包壳管                           外径为5.6mm 、 高度为 0.5mm , 两个线圈间距为


   的电导率 σ 的影响。为了保证两者不影响氧化膜厚
   度测量结果, 还需对于d 和 σ 的偏导均始终等于                         3.0mm 。测量系统整体结构示意如图 10 所示, 其
              f
   0 。在实际问题中, 很难将金属涂层厚度和包壳管电                         信号发生模块提供激励信号, 测量探头贴近样品进
   导率两者的影响完全去除, 只能通过优化 , 尽量降                         行测量, 与参考探头的信号进行差分放大, 得到的信
                                        f
                                                     号进入信号处理系统进行处理, 处理后的信号最终
   低两者对氧化膜测厚的影响。因此, 在实际计算中,
   拟采用式( 15 ) 所示的优化方法来降低外部参数影                        存储并显示在计算机上。
                                                          试验仪器为实验室自研的涡流仪, 其实物如图
   响, 并通过二次多项式拟合求解h 和X 的关系, 最
   后将其用于其他样品的多频激励测量数据, 就可以                           11所示。该 仪 器 的 主 要 参 数 如 下: 激 励 频 率 为


                                                     100Hz~8 MHz ; 频率分辨率为 1Hz ; 激励电压为

   求解相应的氧化膜厚度。

                                                     0~10V ; 采 样 分 辨 率 为 16 位;采 样 率 为
               ∂ f    ∂ f

      min ∑    ∂d  +  ∂σ     s.t. f X   = h          125MHz · s ; 多频检测频率个数为4 ; 地址信号为

                                                                -1
                                             ( 15 )  256个。试验参数设置与仿真参数保持一致。检测
                                                                                                7
                                                                                               6
                                                                             2024年 第46卷 第5期
                                                                                     无损检测
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