Page 66 - 无损检测2022年第七期
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张国强,等:
   奥氏体焊缝的两种超声检测方法对比


                                                        ( 2 )第二组: 中心距为10mm , 覆盖深度为20~
                                                     40mm 。


                                                         ( 3 )第三组: 中心距为 30mm , 覆盖深度为 40~

                                                     60mm 。

                                                         ( 4 )第四组: 中心距为 49mm , 覆盖深度为 60~
                                                     80mm 。


                                                         ( 5 )第五组: 中心距为65mm , 覆盖位置为底部
                                                     焊缝熔合线及热影响区。
          图 10  第二组中心距双晶探头的检测结果
                                                          通过以上 结 果 可 以 看 出, 双 晶 聚 焦 纵 波 超 声
                                                     检测能够 发 现 人 工 对 比 试 块 中 的 所 有 缺 陷, 但 其
                                                     声束覆盖 范 围 小, 若 要 同 时 达 到 厚 度 方 向 和 焊 缝
                                                     宽度方向 的 检 测 覆 盖, 只 能 通 过 增 加 扫 查 次 数 的
                                                     方法来实现。
                                                          两种方法各有利弊, 若结合全聚焦相控阵声束
                                                     覆盖范围大, 信噪比高的特点, 可以快速对焊缝进行
                                                     检测, 提高检测效率, 同时若兼顾双晶聚焦纵波超声
                                                     指向性好, 可对缺陷准确定位定量的特点, 则能够达
          图 11  第三组中心距双晶探头的检测结果                      到更好的检测效果。

                                                     5  结语


                                                        ( 1 )全聚焦相控阵技术和双晶聚焦纵波斜探头
                                                     技术都能检出奥氏体不锈钢试块上的横孔, 检测灵
                                                     敏度和信噪比能达到相关标准要求。

                                                         ( 2 )全聚焦相控阵技术检测覆盖范围大, 缺陷
                                                     显示直观, 而双晶聚焦纵波斜探头的有效检测范围
                                                     小, 易导致缺陷漏检, 因此必须增加扫查次数。
                                                         ( 3 )为保证检测可靠性, 需同时采用两种技术

          图 12  第四组中心距双晶探头的检测结果
                                                     进行检测。
                                                     参考文献:

                                                     [ 1 ]   强天鹏, 杨贵德, 杜南开, 等 . 全聚焦相控阵技术的场测
                                                          量研究[ J ] . 无损检测, 2020 , 42 ( 2 ): 1-6.
                                                     [ 2 ]   强天鹏, 杨贵德, 杜南开, 等 . 全聚焦相控阵技术声场特

                                                          性初探[ J ] . 无损检测, 2020 , 42 ( 1 ): 1-6.



          图 13  第五组中心距双晶探头的检测结果







                                                                                                                                                                                                                       
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