Page 77 - 无损检测2025年第一期
P. 77

刘永生,等:

              锆合金包壳氧化膜厚度涡流检测探头仿真优化与设计

                  为探究氧化膜厚度变化对氧化膜检测探头的影                          度增加,阻抗变化的幅值逐渐增大,且频率越高灵敏度
              响,绘制氧化膜厚度变化时,线圈阻抗幅值和相位变化                          越大,线性度越大。同时,随着厚度增加,相位基本不
              的关系曲线,如图7所示。由图7可知,随着氧化层厚                          变,因此氧化膜厚度主要通过阻抗幅值变化进行区别。
























                                     图 7  激励频率、阻抗变化的幅值和相位与氧化层厚度的关系曲线
                  为探究线圈中径对氧化膜检测探头的影响,绘                          抗变化的幅值和相位的影响曲线,如图8所示。由
              制检测20 μm厚氧化膜,线圈宽度和高度为默认值                          图8可知,中径越大阻抗变化的幅值越大,阻抗变化
              时,2. 5~5. 0 mm (步进为0. 5 mm)线圈中径对阻                 的相位总大于0且逐渐趋近于0。



















                                      图 8  激励频率、阻抗变化的幅值和相位与线圈中径的关系曲线
                  为探究线圈宽度对氧化膜检测探头的影响,绘                          如图9所示。由图9可知,线圈宽度对阻抗变化的幅
              制检测20 μm厚氧化膜,线圈中径和高度为默认值                          值和相位影响较小,阻抗幅值和相位的变化曲线基
              时,线圈宽度对阻抗变化的幅值和相位的影响曲线,                           本不变。



















                                      图 9  激励频率、阻抗变化的幅值和相位与线圈宽度的关系曲线
                                                                                                          43
                                                                                         2025 年 第 47 卷 第 1 期
                                                                                                  无损检测
   72   73   74   75   76   77   78   79   80   81   82