Page 43 - 无损检测2023年第十二期
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张 健, 等:

   奥氏体不锈钢管对接焊缝的相控阵超声检测

   大、 信噪比降低、 声束扭曲以及在异质界面产生虚假                           检测时使用奥林巴斯 MX2-32 / 128PR 型相控

   信号, 因此常采用低频纵波聚焦探头实施检测。                            阵超声设备, 对于壁厚小于35mm 的管道, 探头类

                                                     型为 4DM16X2-A27 ; 若 35mm≤ 壁厚 ≤50mm ,
                                                     探头 类 型 为 2.25DM7X4-A17 , 探 头 参 数 如 表
                                                     4所示。
                                                          超声波在各向异性介质中传播时, 声衰减值和
                                                     声速都受波束方向和晶轴之间夹角的影响, 其次, 超
                                                     声能量传播方向的改变会造成超声声束的扭曲。在
                图2 缺陷模拟试块结构
                                                     检测实施过程中, 应尽可能避免用穿过焊缝中心的

                 表3 预埋缺陷参数                    mm
                                                     声束检测结果评定缺陷。
        缺陷           缺陷尺寸
   材料                                  缺陷类型
        序号    深度   长度    高度   宽度                          依据被检工件的厚度设置多组扇扫, 其中根
                                   外表面焊缝边缘刻槽
         1     0   7.6   1.5  0.5                    部和上表面单独设置扇扫, 焊缝内的扇扫角度范
                                      焊缝根部刻槽
         2   33.43  7.6  1.5  0.5                    围及组数依据被检工件的厚度和在灵敏度试块
                                      坡口未熔合
         3    28    10   2.5   -

                                        夹杂物
   316L  4    18    10   2.5   -                     上调 试 的 难 易 程 度 设 定。 规 格 为 219 mm×
                                      坡口未熔合
         5    10    10   2.5   -                     34.93mm ( 直径 × 壁 厚) 管 道 的 扫 查 工 艺 如 表
         6   33.43  20   1.5  0.5      横向刻槽
         7     0   7.6   1.5  0.5  外表面焊缝中心刻槽         5 , 6 所示。
                                          表4 检测探头参数
      序号           探头型号              类型         频率 / MHz      晶片总数        晶片间距 / mm      楔块类型
       1         4DM16X2-A27       双晶矩阵            4            64           1.00     SA27-DNCR-IHC
       2        2.25M7X4-A17       双晶矩阵           2.25          56           2.71     SA17-DN55L0-IHC
                                        表5 单面双侧扫查工艺
       序号      探头类型     扇扫类型       波型        晶片      孔径 / mm  偏心距 / mm  角度范围     角度增量        聚焦

       1               扇扫 -PAUT1   纵波       1~64     19×12              35°~65°     1°   深度34.9mm
              4DM16X2-
       2               扇扫 -PAUT2   纵波       1~64     19×12      ±23     60°~80°     1°    声程49mm
                A27
       3               扇扫 -PAUT3   纵波       1~64     19×12              75°~85°     1°    声程49mm
                                                声束覆盖









                                        表6 单面单侧扫查工艺

       序号      探头类型     扇扫类型       波型        晶片      孔径 / mm  偏心距 / mm  角度范围     角度增量        聚焦

       1               扇扫 -PAUT1   纵波       1~64     19×12              35°~65°     1°   深度34.9mm
              4DM16X2-
       2               扇扫 -PAUT2   纵波       1~64     19×12    -23&0     60°~80°     1°    声程49mm
                A27
       3               扇扫 -PAUT3   纵波       1~64     19×12              75°~85°     1°    声程49mm
                                                声束覆盖












                                                                                                9
                                                                             2023年 第45卷 第12期
                                                                                     无损检测
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