Page 73 - 无损检测2021年第十二期
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李刚卿, 等:

            CFRP层压板的超声检测


            5中近表面缺陷信号紧靠在固有的界面波或始波后

            边; ④ 延迟块探头因延迟块与被检工件的声阻抗匹
            配性更好, 其上界面波的持续时间短, 因此近表面缺
            陷检测效果更好; ⑤ 各个探头的上下两个界面信号

            之间时间差为 1.7 μ s , 因此 CFRP 板中声速约为

            3000m · s ; ⑥ 由于板厚为2.5mm , 而缺陷距上





                      -1

            表面约0.4mm , 所以缺陷波应出现在上界面波后的
            1 / 6处, 但从图3~5的 A 扫信号图上看, 该处位于                                  图10 双晶探头检测结果
            界面波或始波信号中。
                                                               出复合材料层压结构中的分层缺陷, 且 B扫描, C扫
            2.3 成像检测试验
                                                               描成像效果良好。
            2.3.1 试验装置
                 成像检测试验装置框图如图7所示, 采用步进                        3 试验结果分析
            电机驱动的机械装置带动上述探头对 CFRP层压板
                                                              3.1 近表面缺陷信号位置分析

            进行x- y   方向扫查。扫查区域为110mm×40mm
                                                                 对于直探头来说, 一方面由于缺陷位于探头的

            ( 长×宽), 扫查步距为0.5mm 。
                                                               近场, 另一方面由于始波的电信号阻塞效应严重, 所
                                                               以直探头不利于检测近表面缺陷。
                                                                   从图3~6可以看出, 上表面的界面波一般会持
                                                               续2个周期, 5MHz探头在 CFRP 板中纵波声速约


                                                              3000m · s , 其波长约为0.6mm , 因此上界面电信
                                                                        -1
                                                               号阻 塞 效 应 导 致 的 检 测 盲 区 深 度 理 论 上 约 为
                        图7 成像检测试验装置框图
                                                              1.2mm 。理论上上表面下 0.4mm 的分层缺陷在
            2.3.2 试验结果
                                                               盲区中应难以发现, 但由于入射声束在上表面与近
                 使用除直探头外的 3 种探头对工件进行 B 扫
                                                               表面缺陷之间存在多次反射象( 见图11 ), 其实际上
            描和 C 扫描检测试验, 延迟块探头的检测结果如
                                                               是可以被识别的。
            图8所示, 水浸点聚焦探头的检测结果如图9所示,

            5MHzF3型双晶探头的检测结果如图10所示。







                                                                   图11 上表面与近表面缺陷之间多次反射示意

                                                                                           为反射波, 与经近表
                                                                   图11中, P 0  为入射波, P 1
                         图8 延迟块探头检测结果                                                         、   等都会被接
                                                               面缺陷反射形成的系列反射波P d1 P d2
                                                                                             被隔声层阻挡, 不
                                                               收到。对于双晶探头, 该反射波P 1
                                                               会被接收到。设入射波P 0=Aex pj ωt ); 上界面反射
                                                                                             (
                                                               与透射系数分别为γ 与 , 声束经历近表面缺陷的反
                                                                                   β
                                                               射及上表面透射的历程后的总衰减为 α ; 则
                                                                                          2π      

                                                                       P d1=A β γ β ex pj ωt 2d      =
                                                                                       
                                                                                                  
                                                                                           λ      
                                                                                       
                                                                                         2π      

                                                                             Aα β ex pj ωt 2d             ( 1 )
                                                                                     
                                                                                                 
                                                                                         λ       
                                                                                     
                       图9 水浸点聚焦探头检测结果
                                                                                          2π      
                                                                               2

                 由图8~10可知, 3 种检测技术均能有效检测                               P d2=Aα β ex pj ωt 4d              ( 2 )
                                                                                                  
                                                                                      
                                                                                          λ       
                                                                                      
                                                                                                         5
                                                                                                        3
                                                                                       2021年 第43卷 第12期
                                                                                              无损检测
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