Page 97 - 无损检测2021年第五期

陆雷俊:
CR 检测系统长期稳定性测试方法的标准对比

和 EN14784-1-2005 ( 以下简写为 E14784-1 ) 标准 EN14784-1 标准将测试分为 CR 质量初始评

中典型的 CR 设备长期稳定性测试的相关方法, 并 价和定期控制。其中, CR 质量初始评价验收由合
进一步梳理、 总结了 ASTM ( 美国材料实验协会) 标 同双方确定, 用于设备验收和初次使用时的性能测
准的要求, 既可规范设备制造商的相关技术条款, 又 试; 定期控制用于用户使用期间的设备性能测试考
可为用户建立 CR 系统长期稳定性质量控制文件提 核( 设备稳定性测试)。

供技术基础, 提供更高更可靠的无损检测技术服务, 为确 保 用 户 保 持 检 测 的 长 期 稳 定 性, GB / T
迎合高质量的工业全球化趋势。 21356 标准对扫描器或 IP 系统对成像质量的影响
进行了评价, 该标准是直接针对工业 CR 用户提供
1 CR 检测技术现状
的, 用于定期评价设备系统的适用性。现行标准中,
1.1 CR 系统简介 ASTM 的测试要求发布时间较早, 版本更新较为及
CR 检测系统工作原理为利用射线在 IP 板上 时, 使用经验比较丰富。
形成的潜影, 采用激光扫描仪, 对潜影进行数字化提 2.2 测试试块
取, 结合相关专业软件及显示屏进行成像观察。检 目前主流的 CR 长期稳定性测试试块主要分为

测系统主要包括射线发生装置、 IP 板、 扫描仪、 图像 T yp eⅠCRPhantom 型( 以下简称I型) 试块和 T yp eⅡ

处理平台等( 见图 1 )。 CRPhantom 型( 以下简称II型) 试块( 见图2 )。

图 1 CR 检测系统构成示意
1.2 CR 检测系统长期稳定性测试技术
工业 CR 检测系统稳定性最早出现在 ASTM 的
相关标准中, 随着 CR 检测场景和应用范围的扩大,
对设备使用阶段的长期稳定性要求也在不断提高。
相对于早期的工业 CR 检测系统的长期稳定性
测试要求, ASTM 新版长期稳定性要求提出了相关
修订。目前, 国内外 CR 检测设备品牌众多、 设备分
级分类复杂、 适应标准也不相同。长期稳定性测试
方法和要求的差异会导致 CR 检测质量不一。国内
长期稳定性测试的器材、 方法主要沿用国外的成熟 图 2 主流 CR 长期稳定性测试试块结构示意
经验, 在测试方法、 验收指标的适应性、 技术的先进 EN14784-1 和 GB / T21356 标准中采用I型试

性等方面需要进一步学习和研究。 块完成所有测试项目。

2 CR 系统长期稳定性标准要求对比 ASTM E2445 测试可以使用3 种类型的试块,
分别为I型、 II型和 EPS ( 等效灵敏度) 试块。其中I
2.1 现行标准 型试块由 13 个图像质量指示器组成, II型试块由
E2445 标准将 CR 设备测试分为设备初始测试 10 个图像质量指示器组成。

和长期稳定性测试。初始测试主要用于设备出厂、 I型试块的图像指示器种类较全, 适用于较高
交付及当设备组件发生修理、 变动、 升级时, 具体可 能量的数字射线检测设备的评价; II型试块相对于

参考 ASTM E2446-2014 的相关要求。长期稳定 I型试块, 其图像质量指示器少且简单, 适用于低能
性测试可参考 E2445 的要求, 用于用户使用期间的 量射线检测的相关项目。在实际使用中, 由于II型

设备性能测试。 试块减少了图像质量指示器的使用数量和种类, 降
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2021 年 第 43 卷 第 5 期
无损检测