Page 99 - 无损检测2021年第五期

陆雷俊:
CR 检测系统长期稳定性测试方法的标准对比

3.2 推荐的测试方法和验收要求 法、 使用试块、 测试程序和验收有比较详细的规定

E2445 标准对 CR 检测长期稳定性测试的方 ( 见表 3 )。
表 3 E2445 标准推荐的测试方法和验收要求

试验类型 序号 测试项目 试板型号 质量指示器 推荐验收指标
Ⅰ 型 铜、 铝、 钢对比度计 ≤2% 对比度
对比灵敏度
1.1
Ⅱ 型 铝对比度计 ≤2% 对比度
Ⅰ 型 楔型像质计 / 双丝像质计 相对于基准 ±1 个线对
1.2 空间分辨力
Ⅱ 型 线对卡 / 双丝像质计 相对于基准 ±1 个线对
Ⅰ 型 线性质量指示器( 刻度尺) ≤2% 失真

1.3 几何畸变
Ⅱ 型 点测量靶( 4 点) ≤2% 失真
Ⅰ 型 T 靶 直边或连续边
1.4 激光抖动
Ⅱ 型 长条靶标 直边或连续边
Ⅰ 型 T 靶 在典型窗宽下不可见
1.5 光电倍增管非线性
Ⅱ 型 短条靶标 在典型窗宽下不可见
质 Ⅰ 型 背景图像 不可见
量 1.6 扫描线完整性
Ⅱ 型 背景图像 不可见
测
Ⅰ 型 背景图像 不可见
试 1.7 扫查线丢失
Ⅱ 型 背景图像 不可见
核
Ⅰ 型 均质靶条 ≤2% 噪声
心 1.8 扫描仪滑动
图 Ⅱ 型 点测量靶( 4 点) ≤2% 失真
像 Ⅰ 型 阴影质量靶( 灰度测量) ±15%EC 靶
Ⅰ 型 背景( 目视) 不可见
阴影
1.9
Ⅱ 型 背景( 灰度测量) ±15% 中心区域
Ⅱ 型 背景( 目视) 不可见
Ⅰ 型 背景( 灰度测量) ≤2% 像素值
1.10 条带
Ⅱ 型 背景( 目视) 无可见残留图像
Ⅰ 型 背景( 灰度测量) ≤2% 像素值
擦除
1.11
Ⅱ 型 背景( 目视) 无可见残留图像

1.12 等效灵敏度 EPS ( E746 ) EPS试块( 目视) 相对于基准 ±1 个孔组
Ⅰ 型 背景 依据数据统计结果而定
1.13 信噪比
Ⅱ 型 背景 依据数据统计结果而定
Ⅰ 型 背景( 灰度测量) ≤2% 像素值
Ⅰ 型 背景( 目视) 无可见残留图像
2.1 残影
Ⅱ 型 背景( 灰度测量) ≤2% 像素值
Ⅱ 型 背景( 目视) 无可见残留图像

可 Ⅰ 型 线性像质计 ≤2% 失真
2.2 空间线性
选 Ⅱ 型 线性像质计 ≤2% 失真
项 2.3 中心束准直 Ⅰ 型 中心束指向像质计( 目视) 规则间距螺旋
试 Ⅰ 型 背景 无
验 2.4 IP 板伪缺陷 Ⅱ 型 背景 无
Ⅰ 型 背景( 灰度测量) <10% 灰度变化

2.5 IP 板相应变化
Ⅱ 型 背景( 灰度测量) <10% 灰度变化
Ⅰ 型 背景( 灰度测量) 无
2.6 IP 板衰退
Ⅱ 型 背景( 灰度测量) 无

为了监测 CR 系统稳定性成像, 应考虑实际检 检测系统长期稳定性测试间隔时间为 3 个月, 客户

测频率和长期稳定性测试周期。 E2445 推荐的 CR ( 下转第 82 页)
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2021 年 第 43 卷 第 5 期

无损检测