Page 84 - 无损检测2021年第二期
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党长营, 等:

            基于 Bezier拟合的射线检测焊缝缺陷指数和峰谷指数的计算


                 由于列灰度轮廓的钟形特性和缺陷引起的局部                          合的次数难以确定, 且存在严重的“ 龙格效应”, 特别
            畸变特性, 可通过 DI和 PVI对 Bezier拟合曲线的钟                    是当拟合的段数过多、 拟合的次数较大时, 其基本上
            形特性和局部畸变进行度量, 以达到有效判别缺陷存                           是将所有数据点平滑的串联起来, 这样不能达到滤
            在性。如果列灰度轮廓穿过焊缝 ROI的缺陷, 则有                          除噪声的目的; 拟合的段数过少、 拟合的次数过小
                                P VI ≥1                        时, 又不能有效反映原始数据的走势, 不能获得期望
                                 D I >1                ( 8 )   的曲线效果。 Bezier拟合曲线不仅能够有效描述原

               通过式( 8 ) 可以实现对射线检测图像中的 5 大                      始数据点的趋势, 而且可有效反映缺陷引起的局部
            类焊缝缺陷的高精度和高可靠性探测。                                  畸变, 获得期望的拟合曲线。这主要是因为 Bezier
            2  试验与分析                                           曲线中的每个控制点都会影响整个曲线的形状, 并
                                                               且其能够根据原始数据点自适应地确定拟合的阶
               为了进一步论证 Bezier拟合对 DI和 PVI的重                     数, 因此, 其在滤除原始数据噪声的同时, 还能够有
            要性和影响特性, 下面将开展不同方法的拟合对比
                                                               效反映原始数据的局部畸变。这正是 Bezier 拟合
            试验和不同缺陷的 DI和 PVI计算对比试验。试验
                                                               对 DI和 PVI重要性的体现。
            中, 射线检测的对象是大型燃气轮机主机关键部件
            的焊缝。
            2.1  不同方法的拟合对比试验
               为了证明 Bezier方法在拟合穿过焊缝 ROI缺
            陷的列灰度轮廓时是至关重要的, 将其与最小二乘
            多项式拟合和高次样条拟合进行了对比试验。
                 特别地, 由于高次多项式和高次样条拟合不仅
            会带来计算上困难, 而且容易导致“ 龙格( Run g e ) 效
            应”, 因此, 在实际使用中, 其阶数一般不超过 10 次。
            试验选择了拟合效果比较好的 10 次多项式拟合和
            10 次 样 条 拟 合 与 Bezier 拟 合 进 行 对 比, 以 说 明
            Bezier拟合的有效性和优势。
                 焊缝缺陷在射线检测图像上往往呈现出高灰度
            或低灰度, 故部分试验采用了具有代表性的气孔图

            像( 468 像素 ×453 像素)、 裂纹图像( 552 像素 ×524
            像素) 和夹钨图像( 445 像素 ×443 像素), 不同方法                        图 2  气孔图像line1 列位置及其不同方法的
            拟合line1 列位置灰度轮廓的曲线分别如图2~4 所                                        灰度轮廓拟合曲线

            示( 灰度值无量纲), 图像的像素当量均为 50 μ m , 选                  2.2  不同缺陷的 DI和 PVI计算对比试验
            择的line1 列刚好穿过上述缺陷, 缺陷沿line1 方向
                                                                 为了论证 Bezier拟合对 DI和 PVI的影响特性,

            的长度分别约为 3.5 , 1.5 , 1.15mm 。                       分别对上述具有代表性的气孔、 裂纹、 夹钨等缺陷的
                 由图 2 ( b ) ~ 图 4 ( b ) 可以很明显看出, Bezier拟       缺陷列和非缺陷列的 DI和 PVI进行计算对比试验。
            合曲线与 10 次多项式拟合曲线和 10 次样条拟合曲                            针对上 述 不 同 类 型 的 缺 陷, 穿 过 缺 陷 区 域 的
            线存在非常大的差异。 10 次多项式拟合不能有效                          line2 位置和穿过非缺陷区域的line3 位置以及沿这
            地描述原始数据的轮廓趋势, 特别是在图 2 ( b ) 中,                     两条列灰度轮廓的 Bezier拟合曲线( BF 曲线) 和拟
            line1 列轮廓穿过 2 个气孔缺陷, 灰度轮廓存在 2 个                    合误差曲线( BF-E 曲线) 分别如图 5~7 所示( 拟合
            明显的波谷畸变时, 10 次多项式拟合曲线完全不能                          误差为灰度差值, 无量纲), BF 曲线和 BF-E 曲线又
            反映原始数据点的原有趋势, 并且出现了一定的“ 龙                          称为缺陷的 ANDM 探测曲线。从图 5 ( b ) ~7 ( b ) 可
            格效应”。此外, 因为拟合曲线的趋势是未知的, 所                          以明显看出, 沿line2 的 BF 曲线含有缺陷引起的局
            以 10 次多项式拟合的阶数很难确定。 10 次样条拟                        部畸变, 且列轮廓的钟形分布遭到破坏; 其对应的
            合曲线虽然能一定程度上反映缺陷引起的局部畸变                            BF-E 曲线也表现出非常剧烈的波动。最重要的是,
            和原始数据的基本趋势, 但其分段拟合的段数和拟                           BF 曲线畸变的程度和 BF-E 曲线波动的幅度也会
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