Page 83 - 无损检测2021年第二期
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党长营, 等:

            基于 Bezier拟合的射线检测焊缝缺陷指数和峰谷指数的计算


            局限性。                                               非常容易地合并和有效地追踪规则或变化莫测的数
                 在前期研究中, 为了解决常用缺陷探测方法存在                        据点, 具有极好的协调和平滑特性。特别地, 在利用
            的阈值和系数设置过多、 有效特征提取困难、 对噪声                         Bezier函数对数据进行分析时, 有 3 个重要的特性:
            敏感、 探测精度低、 误报率高等问题, 笔者曾提出一种                        原始数据的均值和拟合数据的均值是一样的; 高阶
                                                       [ 12 ]
            射线检测图像中焊缝缺陷探测的新方法( ANDM ) 。                        多项式拟合不会存在局部畸变; 相关和非相关变量
            在该方法中, 提出了焊缝缺陷指数( DI ) 和峰谷指数                       在用 Bezier函数表达时可去耦合关系。

            ( PVI ) 的概念, 并对其进行了定义; 同时, 利用这两个                       一个n 阶 Bezier曲线 P ( u )可以通过n+1 个
            指数实现了焊缝缺陷的高精度、 高效率和高可靠性探                           控制点来确定, 即
                                                                                n
            测。文章将系统地分析 Bezier拟合的特点和作用、 DI                                             n (                 ( 1 )
                                                                     P ( u ) =    b i B i u ), 0≤u ≤1
            和 PVI的定义及计算方法, 以进一步论述 Bezier拟合                                   ∑ i = 0
                                                               式中: b i  为第 i 个控制点的坐标; u 为 Bezier的位置
            对 DI和 PVI的重要性和影响特性。
                                                                     n
                                                                      (
                                                               参数; B i u ) 为 Bernstein多项式。
            1  相关理论                                                其中, Bernstein多项式可表示为
              ANDM 的算法原理如图 1 所示, 其主要由感兴                         n          n !      i       n - i
                                                               B i u ) =           u ( 1-u ) , i= 0 , 1 ,…, n
                                                                 (
            趣区域( Re g ionofinterest , ROI ) 提取、 Bezier曲线               i ! ( n- i )!



            拟合和基于 DI和 PVI的缺陷判别 3 部分构成。由                                                                   ( 2 )
                                                                 Bezier曲线的一个重要特征是逼近曲线必然经
            图1 可以看出, Bezier曲线拟合不仅是 DI和 PVI计
                                                               过逼近数据的起始点和终点, 即有
            算的基础, 而且是 ANDM 的核心环节之一。因此,

                                                                                     ;
                                                                                            =
                                                                                 =
            Bezier拟合对 DI和 PVI的计算, 以及 ANDM 的性                               P ( 0 ) b 0 P ( n ) b n        ( 3 )
                                                                                           为数据的终点坐标。
            能具有至关重要的影响。                                        式中: b 0  为数据的起点坐标; b n
                                                                   此外, 多项式 P ( u ) 的 Bezier坐标b'是多项式
                                                                                                   i
                                                              P ( u ) 的导数, 其可表示为

                                                                      i=            ), i= 0 , 1 ,…, n-1   ( 4 )
                                                                     b' n ( b i + 1 - b i
                                                              1.2 DI和 PVI的定义及计算方法
                                                                  为了对列灰度轮廓的钟形分布和缺陷引起的局
                                                               部畸变进行精确描述, 前期研究提出了 DI和 PVI
                         图 1 ANDM 的算法原理                        的概念, 并对其进行了定义。
            1.1 Bezier拟合的特点和作用                                     PVI是对 Bezier拟合曲线钟形的度量, 其为列
               理论上, 如果一个 ROI图像中没有缺陷, 则所                        灰度轮廓的 Bezier拟合曲线中峰值点和谷值点个
            有横穿过焊缝的列灰度轮廓将表现为具有一定局部                             数的总和, 可表示为
            波动的钟形分布; 相反地, 如果存在缺陷, 它将破坏                                        P VI=N P +N V               ( 5 )
            该钟形分布, 并导致局部发生畸变。因此, 通过搜索                          式中: P VI  为 PVI的值; N P  为峰值点个数; N V       为谷
            灰度列轮廓的局部畸变, 可以实现对 ROI图像中缺                          值点个数。
            陷的探测和定位。然而实际上, 受射线图像的噪声                                DI是描述缺陷存在性的度量, 可以通过 Bezier
            和低对比度等因素的影响, 要辨别局部畸变是由缺                            拟合曲线的拟合误差 A E         得到, 可表示为
                                                                                          )
            陷引起的, 还是由其他因素引起 的是非常困难的。                                                M ( A E σ 2
                                                                              D I=                        ( 6 )
            针对此问题, 前期研究中提出采用 Bezier拟合来排                                               c 2 μ
                                                                                       ) 为 |A E | 的最大值; σ 为
            除局部波动和由非缺陷因素引起的畸变。                                 式中: D I  为 DI的值; M ( A E
                Bezier曲线是指用光滑参数曲线段逼近一个折                       |A E | 的标准差; 为 |A E | 的均值; c 2    为图像的质量
                                                                            μ
            线多边形, 其不要求给出导数, 只要给出数据点就可                          系数。
            以构造曲线, 而且曲线的阶次严格依赖该段曲线的                                其中, 拟合误差 A E     可表示为

            数据点 个 数。 Bezier 函 数 实 质 上 是 一 个 多 项 式 函                 A E =P A i -P 0 i i= 1 , 2 ,…, W R    ( 7 )
                                                                                     (),
                                                                            ()
            数, 其形状可以通过数据点( 即控制点) 的位置直观                         式中: P A i 为 Bezier拟合曲线; P 0 i 为原始列灰
                                                                       ()
                                                                                               ()
            地确定, 并且包括全局形状信息              [ 13 ] 。 Bezier函数能    度轮廓曲线; W R     为 ROI区域宽度。
                                                                                                         9
                                                                                                        4

                                                                                       2021 年 第 43 卷 第 2 期

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