Page 69 - 无损检测2021年第二期
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张子健, 等:

            基于双面阵探头的厚壁奥氏体不锈钢对接焊缝的相控阵超声检测


                                                                   表 2 DMA 探头与射线检测对缺陷参数的

                                                                       测量结果( A 面检测)     mm
                                                                缺陷性质       长度    RT 测量长度    缺陷埋深 缺陷实际埋深
                                                                  夹渣       31        31       18       16
                                                                 未熔合       21        20       28       12
                                                                纵向裂纹       29        30       23       13





















                  图 3 B 扫、 C 扫和三维成像结果( 对比试块)
            不大。
            3  模拟试块验证

            3.1  检测对象
               检测对象为 40 mm 厚奥氏体不锈钢对接焊缝


            模拟 试 块, 尺 寸 为 400 mm×300 mm ×40 mm
            ( 长 × 宽 × 高), 焊缝坡口为 X 型, 焊接方法为氩弧
            焊 + 手工电弧焊, 预制有夹渣、 未熔合、 纵向裂纹等

            缺陷。
            3.2  检测参数
               分别采用上述 DMA 探头和常规 16 晶片线阵

            探头进行扫查。 16 晶片线阵探头频率为 4MHz ; 晶


            片尺寸为 10mm×0.4mm ( 长 × 宽);检测模式为

            横波自发 自 收; 折 射 中 心 角 度 为 36° ; 扇 扫 范 围 为
            36°~75° 。
            3.3  结果分析
            3.3.1 DMA 探头检测结果
                 扫查面为双面双侧, 采用拉线式编码器进行记
            录, 对缺陷的长度、 深度和高度进行测量, 并与射线
            检测( RT ) 的结果进行比对分析, 验证 DMA 纵波探
            头检测结果的可靠性。 DMA 探头与射线检测对缺
            陷参数的测量结果如表 2 所示( 表中长度与缺陷埋                              图 4 DMA 检测模拟试块不同缺陷的成像结果
            深为 DMA 探头的测量结果)。 DMA 检测模拟试块                        他奥氏体晶粒的杂波信号, 3 个缺陷清晰可见, 不会
            不同缺陷的成像结果如图 4 所示。                                  出现漏检或误判的情况, 对现场奥氏体不锈钢厚壁
                 从图 4 可以看出, 采用 DMA 相控阵探头检测                     承压设备的检测具有较高的可行性。从表 2 可以看
            得到的图谱具有高信噪比, 除了缺陷成像外, 没有其                          出, 采用 DMA 相控阵探头检测得到的缺陷长度具
                                                                                                         5
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                                                                                       2021 年 第 43 卷 第 2 期
                                                                                               无损检测
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