Page 68 - 无损检测2021年第二期
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张子健, 等:

            基于双面阵探头的厚壁奥氏体不锈钢对接焊缝的相控阵超声检测



            1  厚壁奥氏体不锈钢对接焊缝的检测难点

               奥氏体不锈钢对接焊缝的组织结构与普通碳钢
            的具有明显差别, 其焊缝在凝固过程中不产生相变,
            冷却至常温后仍为奥氏体组织。奥氏体不锈钢焊缝
            具有热膨胀系数小、 散热效果差、 晶粒易长 大等特
            点, 这些特点决定了其具有粗大的柱状晶组织                      [ 2 ] 。
            此外, 对厚壁结构采用多层多道的焊接工艺时, 会产
            生晶界的不连续, 其次奥氏体不锈钢晶粒具有弹性
            各向异性的特点, 厚壁结构会加强弹性各向异性的
            特征, 使得超声波在传播过程中产生严重散射、 波型
            转换、 衰减增大、 波束偏移等现象, 使常规超声检测                                  图 1  奥氏体不锈钢试块尺寸示意
            在奥氏体不锈钢厚壁结构中的应用存在较大困难。
            射线检测对危害性较大的裂纹、 未熔合等面积型缺
            陷不敏感, 且随着壁厚的增加, 透照厚度过大, 会增
            大缺陷的漏检率, 给设备的安全运行带来隐患                    [ 3-4 ] 。
                 针对粗晶材料的相控阵超声检测, TRL ( 双晶
            纵波) 相控阵检测技术具有一定的优势, 已广泛地应

            用于核电工业领域。其中 DMA 探头是属于 TRL
            系列中的二维矩阵相控阵探头, 其将两个低频探头                                         图 2 DMA 探头结构示意
            安装在用隔声层隔开的检测楔块上, 可避免楔块之                            于 30mm · s , 耦合补偿为 3dB 。


                                                                          -1
            间产生声场串扰, 大幅改善声束的穿透能力和信噪                           2.3  结果分析
            比, 该探头的主要特点有: 采用低频纵波、 一发一收                            采用上述检测工艺分别进行 B 扫、 C 扫和三维
            模式; 覆盖范围大、 成像效果好、 信噪比高               [ 5 ] 。       成像( 见图 3 ), 并对成像结果进行分析。缺陷参数

            2  对比试块验证                                          的测量结果与实际值如表 1 所示。
                                                                     表 1  缺陷参数的测量结果与实际值                  mm
            2.1  检测对象
                                                                              测量结果               实际值
               检测对象为 NB / T47013.3-2015 附录I中的                   缺陷编号
                                                                           深度       长度       深度        长度
            3 号对比试块, 该试块材料为奥氏体不锈钢, 厚度为
                                                               焊缝中心 1  #   9.7      28.8      10       40

            80mm , 设置有 2 组长横孔缺陷, 分别为焊缝中心横                      焊缝中心 2  #   31.4     37.3      30       40
            孔和熔合区横孔, 共 8 个, 试块尺寸如图 1 所示。                       焊缝中心 3  #   54.1     36.7      50       40
            2.2  检测工艺                                          焊缝中心 4  #   75.3     36.7      70       40
                                                                      #
               采用以色列ISONIC2009 型相控阵检测仪器,                        熔合线 1       -       38.0      10       40
                                                                      #


            探头为 SonotronNDT2003098型双面阵相控阵纵波                     熔合线 2      30.3     38.0      30       40
                                                                      #    53.0     38.0      50       40

            探头, 该探头的主要参数有: 检测频率为2.0MHz ; 折                      熔合线 3
                                                                      #
                                                                熔合线 4      75.0     38.0      70       40

            射中心角度为 55° ; 晶片数量为 4×8×2 个, 单个晶

            片尺寸 为 3.8 mm×4 mm ( 长 × 宽), 探 头 结 构 如                 从图 3 可以看出, 采用 DMA 纵波探头检测的

            图 2 所示。                                            图像具有较高的信噪比, 缺陷信号清晰可见, 杂波信
                 扫查方式为沿线扫查与扇形扫查结合; 记录模                         号较少, 值得注意的是, 由于扇扫角度为 28°~86° ,

            式为编码器模式, 编码器步进为 0.5mm ; 扇扫范围                       且采用单面双侧的扫查工艺, 所以上表面存在一定
            为 28°~86° , 角度步进为 1° ; 聚焦深度为 60mm ; 声              的盲区, 焊缝中心 1 和熔合线 1 缺陷的测量不准

                                                                                #
                                                                                            #

                          -1                                   确, 需要采用双面双侧扫查进行全覆盖检测。基于
                                           ϕ
            速为5790m · s ; 评定线灵敏度为 2mm×40mm

                                                 ϕ
            ( 直径×长度, 下同) -8dB , 扫查灵敏度为 2mm×                    相控阵的扇扫检测原理, 预埋深度越大的缺陷, 检测

            40mm-14dB ; 检测面为单面双侧, 扫查速度不大                       结果的深度误差会越大, 但对缺陷长度测量的影响

              3
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                   2021 年 第 43 卷 第 2 期

                   无损检测
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