Page 124 - 无损检测2025年第二期
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王晓英，等：
腐蚀对叶片毛坯荧光渗透检测的影响
图 5 增大吹砂压力后吹砂表面扫描电镜检测结果（100×）
机械研磨、钻孔、绞孔、车工、研磨、吹砂、液体打磨、
振动光饰或其他容易弄脏金属而妨碍金属渗透的处
理之后进行渗透检验，在检验前，零件应进行腐蚀，
从每个检验表面去除 0. 000 5 英寸（0. 012 mm）的
量”，即荧光渗透检测前的腐蚀目的仅是为了打开表
面缺陷的开口 ，保证荧光液的渗入量，其对零件表
[6]
图 3 叶片黑点处金相图像及 XRD 检测图谱
面的去除量远小于显晶腐蚀的去除量。
2.2 腐蚀时间对荧光渗透检测的影响
腐蚀过程中发现，对叶片采用晶粒检测腐蚀（时
间一般为1~10 min，具体时间以显晶情况为准）进
行处理时，会在叶片表面产生腐蚀坑及挂灰，检测时
零件表面产生聚集的荧光显示会形成检测背景，对
缺陷的识别造成干扰，腐蚀产生的荧光背景显示如
图6所示。
图 6 腐蚀产生的荧光背景显示
针对腐蚀时间对荧光渗透检测背景影响进行试
验，挑选4件荧光渗透检测背景合格的叶片进行腐
蚀，腐蚀时间分别为2，5，7，9 min，腐蚀后进行荧光
渗透检测，其检测结果如图7所示。
从对比情况可以看出，随着腐蚀时间的增加，荧
图 4 基体处金相图像及 XRD 检测图谱 光背景深度逐渐变深。腐蚀过程中，待检表面易形
陷开口造成堵塞。 成腐蚀坑，影响检测背景。由于每批叶片的腐蚀时
间不定,所以显晶腐蚀过程虽可完全打开缺陷开口，
2 腐蚀对荧光渗透检测结果的影响
但提供的检测背景不稳定。
2.1 荧光渗透检测前预腐蚀 根据上述试验情况，将吹砂态叶片荧光检测前
国外相关规范中规定“如果在喷砂、锉削、抛光、 的预设腐蚀时间设置为2 min。
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2025 年 第 47 卷 第 2 期
无损检测
