Page 123 - 无损检测2024年第九期
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龚思璠,等:

              碳钢焊缝典型缺陷的非线性特征

              2  研究方法                                           条件发生微弱变化时相空间轨道的变化程度。文章
                                                                采用小数据量法计算缺陷信号最大Lyapunov指数,
              2.1  递归图分析方法
                                                                具体步骤如下       [17] 。
                  递归图描述重构的缺陷信号轨线如何递归或重
                                                                     找出重构相空间中每个相点X 的最近邻点X ,
              复其自身,揭示了系统的时间关联信息,其绘制过程                                                           j            jj
                                                                且限制短暂分离
              如下  [15] 。
                                                                               d  (0)=min X  -X
                  设采集的焊缝缺陷信号重构后的相空间元素为                                          j         j   jj         (6)
                                                                              
                                                                                  jj
                     X  ={ ,xx  ,,x      , =1,2,, }     (1)                     j ->p
                                                                              
                                                   N
                                          i
                                
                                                
                                      m
                      i    i  i +τ  i +( -1)
              式中:m为嵌入维数; τ 为延迟时间;N=n-(m-1)τ                     式中:p为序列的平均周期。
              为重构后的相点数;n为序列长度。                                       对于每个相点X ,计算出与其最近邻点X 的第i
                                                                                   j
                                                                                                         jj
                                                                个离散时间步长后的距离 d             ()
                                                                                          i
                  计算X 与X 的距离δ       ij  =  i - X  X 。给定一个值                              j
                                              j
                        i
                            j
                                                                               i
              r,若 δ ij  <r ,在(i,j)处作一个点,由此即可得到递                             d j ( )= X j +  -X jj +i  i     (7)
                                                                           
              归图。                                                           i   =1,2, ,min( - , - ) jj  N  j N
                                                                                               i
              2.2  盒维数分析方法                                           对于每个i,求出所有j的 lnd         j ( ) 平均值得 ()yi
                                                                                         q
                  盒维数可定量描述缺陷信号的分形特征。设采                                         yi    1    lnd  ( )       (8)
                                                                                               i
                                                                                ( )=
                                n
              集的缺陷信号A是R 空间的任意非空有界集合,对                                               qt  j =1  j
                                                                                     Δ
              于任意r→0,N (A)为覆盖A所需边长为r的n维盒子                       式中:q为非零 d       () 的数目;Δt为采样周期。
                                                                                i
                            r
              的最小数目。如果存在一个数D ,满足当r→0时,有                                        j
                                                                     选取y(i)-i曲线的线性区域,对其进行线性拟合,
                                          3
                                   A
                                N r ()  1              (2)     所得斜率即为最大Lyapunov指数 λ              。
                                        r D 3                                                  max
                                                                2.4  近似熵分析方法
                  则称D 为A 的盒维数         [16] 。                         近似熵可定量描述缺陷信号的复杂程度。从采
                        3
                  对于式(2),存在唯一整数k使得
                                                                集的缺陷信号序列中提取近似熵的方法如下                     [18] 。
                                                                                            xi
                                                                                             ()
                                                        (3)          设采集的缺陷信号序列为  (i=1,2,…,n),
                                                                按顺序构造一组m维矢量
                  对式(3)取对数,可得
                                                                        X ( )=[ ( ), ( +1), , ( + -1)]
                                                                                            xi
                                                                               xi
                                                                                                 m
                                                                                   xi
                                                                           i
                                                                       
                                                        (4)                                              (9)
                                                                                 nm
                                                                        i   =1,2, ,( - +1)
                  进一步变换可得
                                                                     定义X(i)与X(j)之间的距离 [ ( ), ( )]d X  i X  j 为二者
                                                          (5)   对应元素中差值的最大值,即
                                                                     X
                                                                         X
                                                                           j
                                                                  d [ ( ), ( )]=  max     xi  k  x  j  k  
                                                                       i
                                                                                           ( + )- ( + )  (10)
                  如果用边长为r的窗口滑动覆盖整个信号,所需                                         k =0~( -1)                
                                                                                    m
              要的盒子数相当于窗口移动时与缺陷信号相交的窗                            并对每个i计算X(i)与X(j)间的距离 [ ( ), ( )]d X  i X  j 。
              口个数,采用该种方法求解的分维数D 就是尺度为                                给定一个值r,对每个i统计 [ ( ), ( )] 小于r
                                                                                                  i
                                                                                                       j
                                                                                              d
                                                                                                X
                                                                                                    X
                                                 3
              r的盒维数。                                            的数目,记为 n      m () 。将 n m () 与距离总数的比值记
                                                                                r
                                                                                          r
                  文章采用以2为基底的指数网格作为标度,采用                                       i        i
                                                                      r
                                                                作 C m () ,即
                                         n
                                                           n
              线性插值将采样点数扩充为2 ,然后用边长为r=2                              i                    m
                                                                                   r
                                                                               
             (n=1,2,…,m)的窗口去覆盖扩充后的缺陷信号,                                         C m ( )=  n i  () r     (11)
                                                                                 i
                                                                               
                                                                                       nm
                                                                                        - +1
              求得相应的盒子数(窗口个数)N (A)。在双对数坐                                         i =1,2, ,( - +1)
                                                                                         nm
                                           r
                                                                               
              标系中绘制以log  r为横坐标,log  N(A)为纵坐标                                   
                                               r
                             2
                                            2
                                                                           r
              的散点图,基于最小二乘法拟合得到直线的斜率即                                 将 C i m  () 取对数,求其对所有i的平均值,记作
                                                                  m
                                                                    r
              为缺陷信号的盒维数。                                         φ () ,即
              2.3  最大Lyapunov指数分析方法                                                  1    nm
                                                                                          - +1
                                                                              r
                                                                          φ m ()=             lnC m () r  (12)
                  最大Lyapunov指数可定量反映混沌系统在初始                                        nm       i =1   i
                                                                                   - +1
                                                                                                          85
                                                                                         2024 年 第 46 卷 第 9 期
                                                                                                  无损检测
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