Page 89 - 无损检测2022年第一期

朱 镇, 等:

核电站用高磅级阀体铸件的全体积射线检测

1.4 双胶片技术的应用
阀体各部位过渡区域的厚度差较大, 可以采用
双胶片技术进行透照。暗盒里一般放置感光度不同
的两种胶片( 异速双胶片法), 其中感光度较大的胶
片适用于透照厚度较大部位, 感光度较小的胶片适
用于透照厚度较小部位。也可在暗盒中放置感光速
度相同的两种胶片( 同速双胶片法), 观片方法是: 对
于黑度较小部位, 将双片重叠进行观察评定; 对于黑
度较大部位, 用单片观察评定。选择感光度不同的 图 4 C 区凸台内壁
两种胶片时, 应注意在有效黑度范围内, 两种胶片的
曝光量应有足够重叠。

试件尺寸为: A 区壁厚为 45 mm , D 区壁厚为

40mm , E 区壁厚为 85 mm ; A 区到 E 区的壁厚变
化缓慢, 边界并不是太明显; E 区到 D 区的壁厚变
化是一个突变, 边界较明显。在检测 E 区时, 应采

用双胶片技术, 同时像质计应横跨壁厚过渡区域。
1.5 厚度补偿块的应用
图 5 C 区凸台外壁
可用补偿块、 补偿粉、 补偿液等填补工件的较薄
部分, 使透照厚度差减小。通常在检测阀体法兰的时
候, 如果壁厚变化极大, 可使用厚度补偿块来减小厚
度差, 减少边缘的散射。当检测部位极小, 像质计的
标识和拍片标识无法放置时, 可在检测部位放置相似
厚度的补偿块, 然后将识别标识放置在补偿块上。
中部法兰外观如图 3 所示, 由于其壁厚差变化
极大, 如不增加补偿块, 最终底片显示的检测区域宽
度会比实际检测的宽度小很多, 因此在拍法兰的时
图 6 C 区凸台内壁
候, 应在法兰上下两侧增加补偿块或屏蔽物, 以减小
壁厚差, 减少边蚀散射。

图 3 中部法兰外观
另外射线源为 γ源和高能 X 射线时, 在工件和 图 7 D 区凸台外壁
胶片暗盒之间应增加滤板屏蔽前散射, 暗盒背面使 检测完整个区域, 从而发生漏检。如中部法兰遮挡
用铅板屏蔽背散射。 A 区和 B 区, 需要把源倾斜一定角度对被遮挡的部
1.6 补充检测区域 位进行补充检测。补充检测位置如图 8 , 9 所示。
对于各个划分的检测区域, 还应注意其内部壁 1.7 预曝光技术的应用
厚是否有变化。为防止漏检, 壁厚突变的区域需要 射线检测阀体时, 需要放置很多标识, 如公司名
单独进行射线检测, 因此可以在区域标识后面加数 称、 产品名称、 阀体规格、 材料、 炉号、 序列号、 拍片日
字进行区分, 凸台补充检测位置如图 4~7 所示。 期等。为了节省拍片时布置标识的时间, 同时也节
另外还需注意有些部位的遮挡导致无法一次性 约胶片, 可以采用预曝光技术, 即在底片上的固定角
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2022 年 第 44 卷 第 1 期
无损检测