Page 137 - 无损检测2021年第三期

李 衍:
全矩阵捕获和全聚焦法检测标准化新动态

的有效性。按检测目的和产品类型, 有关设置和图像 有关细则。
示例的详细建议, 详见附录 D 。
13 检测报告

焊缝检测, 采 用 ISO23864 : 2020 《 焊 缝 无 损

检测 - 超声检测 - 使用( 半) 自动全矩阵捕获 / 全聚焦 双全法检测报告应符合标准 ISO16810 : 2012

技术》 标准。 要求, 另外, 还应包括以下内容: ① 检测试件, 校验

首次检测前, 应按规范要求, 进行适当的程序验 试块, 参考试块; ② 探头型式、 频率、 角度、 相对于参

证。此验证包括检出所有要求的反射体, 定量和分 考线的位置; ③ 已检出的相关显示的图像, 并至少
类性能, 以及深度和宽度覆盖范围的证明等。 标出位置; ④ 分辨率、 覆盖范围及网格分辨率检查结

果( 见ISO / DIS23865 : 2020 附录 C )。
11 数据存储
应记录下所用双全法检测相关设置, 此记录应

与 PAUT 相 比, 双 全 法 一 般 会 收 集 到 大 量 A 包括: ① 灵敏度设置; ② 采集过程; ③ 成像过程; ④

扫描数据, 这 些 数 据 对 应 于 阵 列 探 头 所 有 发 - 收 组 关注区细节; ⑤ 所用成像路径; ⑥ 扫查布图; ⑦ 定

合。图像用采集硬件或连接采集硬件的计算机上的 量、 表征方法。
A 扫描矩阵计算。两种情况下, A 扫描数据量可能
14 补偿修正

很大而不易储存。
构建的图像及应用的成像参数和处理步骤, 应 壁厚变化会引起成像路径( 包括后壁反射) 生成
存储在硬盘或IT ( 信息技术) 服务器等数字存储介 的缺陷图像显示出现散焦、 错位的现象。对此可在
质上, 供以后查阅。 后处理中作补偿修正, 或用自适应成像法进行修正。
由晶粒组织拉长( 如钢材轧制产生) 引起的各向
12 双全法数据解析
异性, 会造成缺陷显示散焦。对此可通过限制声阑、
12.1 数据解析流程 使用小角度波程、 使用相关于角度的声速或使用自
双全法数据解析流程如下: ① 评定双全法数据 适应算法, 作补偿修正。

质量; ② 识 别 相 关 显 示; ③ 对 相 关 显 示 按 规 定 定 制造或焊接方法产生的几何形状不规则, 会造

位、 定量; ④ 对相关显示按规定分类; ⑤ 按验收标 成工件表面不平整, 以致声束在表面发生反射或透
准判定合格与否。 射, 而引起缺陷显示出现散焦, 对此可用自适应算法
12.2 数据质量评定 补偿修正。
双全法检测只向生成满意的图像, 才可作出把 全矩阵捕获的一个潜在问题是, 每次只触发一
握的评定。而网格分辨率、 波幅保真度、 图 像信噪 个阵元发射脉冲, 探头发射声能有限。因而, 此声束
比, 是双全法图像质量的重要指标。满意的图像有 能量会在衰减性或很厚的材料中扩散, 不能透射到

如下界 定 标 准: ① 耦 合 良 好; ② 时 基 调 整 良 好; 缺陷位置。对此, 可选用更合适的探头或使用多阵

③ 灵敏度调整适当; ④ 信噪比良好; ⑤ 有饱和度指 元发射法采集, 进行补偿修正。

示; ⑥ 数据采集达标。 若温度超出9.1 节规定范围( 即0°C 以下或50°
双全法图像质量评定要求操作者技能熟练、 经 以上), 则应使用与被检工件同材料参考试块( 内含
验丰富( 见第 6 节)。书面检测工艺应根据应用给出 所需关注区横孔), 在与被检工件相同温度条件下,
要求, 若 图 像 不 满 意, 要 求 数 据 重 新 采 集 ( 重 新 扫 校正成像特性。
查)。 其他超声技术也受上述这些特性影响。值得注
12.3 相关显示识别 意的是, 在其他超声技术无能为力的情况下, 双全法
双全法检测中, 工件缺陷和几何特征都会形成 仍可对工件进行高质量检测。
显示。为识别几何特征显示, 需了解工件细节。为
15 解读补遗
判定图像是否为由缺陷引起的显示, 并评估声传播
模式或干扰时, 应考虑其几何形状和一般噪声水平 15.1 标准面世过程

的信号幅度。 国际标准草案ISO / DIS23865 : 2020 ( E ) 已提交
根据应用, 书面检测工艺中应提出信号评定的 所有 成 员 国 表 决 ( 征 询 时 间 为 2020-1-9~4-2 )。
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2021 年 第 43 卷 第 3 期

无损检测