Page 133 - 无损检测2025年第一期

新锐产品

2024 年度 NDT 设备新锐

仪景通光学科技（上海）有限公司 • 所有型号均提供 TFM、PCI、PWI 功能。

仪器名称：OmniScan X4 全聚焦相控阵探伤仪 • 借助 1 TB 固态硬盘（SDD），可以对大型工
件进行长时间检测，而无需在检测中暂停下来以
主要参数：
传输数据。
OmniScan X4 配备
• 所有 OmniScan X4 型号均配备了快速处理器
TFM、PCI 和 PWI 等高 和扩展内存（RAM），可快速处理数据，且软件
级成像功能，可同时显示
对所有常见操作几乎可以瞬时做出反应。
TFM 和 PCI 扫查结果。
典型应用：
开发背景 :
• OmniScan X4 的全聚焦方式（TFM）和相位
OmniScan X4 配备更强大的处理器，生成
相干成像（PCI）等高级工具有助于检测腐蚀和
TFM 成像的速度比前代 OmniScanX3 64 快三 其他微小缺陷，如高温氢致缺陷（HTHA）和氢
倍。新的双探头 TFM/PCI 功能进一步提高了焊
致裂纹（HIC），PCI 可增强探测微小缺陷和裂
缝扫查的效率，可同时提供焊缝两侧的 TFM 和 纹尖端的能力。X4 可同时采集多达 8 个 TOFD
PCI 扫查结果。OmniScan X4 还能够提供原始
和相控阵组，实现高效筛查，可同时采集和显示
的 FMC 数据，有助于开发更高级的应用。
4 个 TFM 和 PCI 组。TFM 和 PCI 多组扫查的侧
改进或创新点： 视图和端视图显示了大面积 HTHA 损伤，包括热

• OmniScan X4 为用户提供直观的应用预设功 影响区内的小裂纹群。
能。比如，使用 HydroFORM、RollerFORM 和 • OmniScan X4 具有更好的灵敏度和分辨率。全
FlexoFORM等扫查器进行腐蚀检测的应用预设。 聚焦方式（TFM）和 PCI（相位相干成像）数据
用户可以直接调用这些预设选项，直接使用或根 采集还可以生成包含细节的俯视图、侧视图和端
据需要编辑这些应用预设中的参数。 视图，使用户看到经过几何校正的图像，探测到

• 双探头 TFM/PCI 成像。使用两个探头对焊缝进 微小缺陷，如：点蚀、晶粒间裂纹、逐步开裂的
行一次性扫查，即可同时显示焊缝两侧的 TFM/ 裂纹。
PCI 结果，以便高效精确地比较、测量和确认缺 • OmniScan X4 支持使用双探头同时扫查整个焊
陷特征。 缝。通过双组 TFM 和 PCI 设置，使用两个探头

• 低配置的 OmniScan X4 可升级至更高配 从焊缝两侧进行扫查，可在显示屏上同时显示两
置， 如 OmniScan X4 16:128PR 可升级为 组TFM 和PCI 数据。减少了用户重复扫查的次数，
OmniScan X4 32:128PR, OmniScan X4 大大提高了焊缝检测效率。
32:128PR 可升级为 OmniScan X4 64:128PR。

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2025 年 第47 卷 第1 期
无损检测