Page 79 - 无损检测2024年第十一期
P. 79

刘  骁,等:

              基于超声检测的双组织盘件过渡区识别
















                         图 4  提取的盘件检测结果图像








                                                                            图 7  搜索区间数组提取示意
                                                                [r 1 ,…, R 1 ],…, q 16 =[r 16 ,…, R 16 ],每条轮廓识别数
                                                                组q i 中的起始元素为内孔半径r i ,终止元素为外圈半
                                                                径尺寸R i ,图中每条粗虚线轨迹所对应的位置为每
                       图 5  均值滤波器处理后的盘件图像                       条轮廓识别数组q i 的数组元素。


                                                                    (3)计算轮廓识别数组Q=[q 1 , q 2 , q 3 ,…, q 16 ]中
                                                                每条数组q i =[q i1 , q i2 , q i3 ,…, q ij ](i=1,2,…,16)
                                                                中的元素个数为j,其中的第s个元素q is 为数组q i 的
                                                                梯度最大点s ,梯度计算公式为
                                                                            i
                                                                           q is 2  -q is 2  +  =max q  2  ij -q 2  ij +1  1     (1)

                                                                     得到过渡区轮廓数组S=[s ,s ,…,s ](i=1,
                                                                                             1  2      16
                                                                2,…,n)。
                                                                2  试验结果


                                                                     为验证文章提出的过渡区识别算法的可行性,
                                                                采用某型双组织盘件进行超声检测与过渡区识别试
                                                                验。采用φ0. 4 mm+15 dB灵敏度对双组织盘件进
                      图 6  超声 C 扫描图像的二维数组数据                     行超声C扫描检测,设定均值滤波尺寸t为3,超声C
                 (2) 搜索区间数组提取示意如图7所示,根据                         扫描结果的像素尺寸为351×351,C扫描结果中盘

              半径尺寸区间从数组P中提取一组轮廓识别数组                             件几何圆心的像素点坐标为(175,175)。超声C扫

              Q=[q 1 , q 2 , q 3 ,…, q i ](i =1,2,…,16),其中q 1 =   描图像过渡区识别处理后的图像如图8所示。
















                                                  图 8  盘件过渡区边界评价过程
                                                                                                          45
                                                                                         2024 年 第 46 卷 第 11 期
                                                                                                  无损检测
   74   75   76   77   78   79   80   81   82   83   84