Page 46 - 无损检测2024年第八期

余志武，等：

金属表面裂纹的氮 - 空位色心漏磁检测

检测，在薄膜厚度为10 mm时，缺陷已经无法识别。 magnetic imaging of ferritins in a single cell[J]. Science
而且，TMR磁传感器检测时存在磁滞，输出信号与 Advances，2019，5（4）：8038．
缺陷之间存在失真延时。可见基于NV色心量子磁 [5] 郑红应. 基于不同电流大小下的金刚石NV色心量子调
传感器搭建的量子精密测量系统在提离值较大的情 控及耦合能量转移研究[D]. 长沙：湖南大学，2020．

况下，检测能力优于传统磁传感器的。 [6] 靖克，谢一进，蓝子桁，等. 基于金刚石氮-空位色心的
磁测量技术[J]. 计测技术，2023，43（4）：15-32．
4 结语 [7] 沈忆华，雷金辉，张云伟，等. 金刚石NV色心在钢丝

使用金刚石NV色心量子磁传感器搭建量子精 绳缺陷检测中的应用[J]. 微纳电子技术，2023，60（6）：
957-964．
密测量平台进行金属裂纹检测试验，结果表明该系
[8] AHMADI S，EL-ELLA H A R，HANSEN J O B，
统可以在提离值15 mm下检测出长度为1 mm，宽度
et al. Pump-enhanced continuous-wave magnetometry
为0. 2 mm，深度为0. 1 mm的金属裂纹，为金属裂
纹工业检测提供了一种新的方式。系统的灵敏度极 using nitrogen-vacancy ensembles[J]. Physical Review
Applied，2017，8（3）：034001．
-1
高（可达到6 nT · Hz ），比传统金属裂纹检测传
[9] DEGEN C，REINHARD F，CAPPELLARO P.
感器的灵敏度高几个数量级，即使对微弱的磁场变
Quantum sensing[J]. Reviews of Modern Physics，2017，
化也有较大的响应，表明该系统可以测量出深度更
89（3）：035002．
小的裂纹。
[10] FESCENKO I，JARMOLA A，SAVUKOV I，et al.
参考文献： Diamond magnetometer enhanced by ferrite flux
concentrators[J]. Physical Review Research，2020，2（2）：
[1] 罗朝莉，朱冰，徐志伟，等. 铝板表面缺陷的激光超声 023394．
可视化检测[J]. 无损检测，2023，45（10）：9-13．
[11] DOHERTY M W，STRUZHKIN V V，SIMPSON D A，
[2] ACOSTA V M，JARMOLA A，ZIPP L J，et al．
et al. Electronic properties and metrology applications
Broadband magnetometry by infrared-absorption detection
of the diamond NV- center under pressure[J]. Physical
of diamond NV centers and associated temperature
Review Letters，2014，112（4）：047601．
dependence[C]//SPIE Proceedings，Advances in
[12] 王琪，黄堃，聂运龙，等. 基于金刚石氮空位系综光探
Photonics of Quantum Computing，Memory，and
测磁共振的振动检测实验[J]. 量子光学学报，2022，

Communication IV．San Francisco，California：SPIE，
2011． 28（1）：63-70．
[13] 吕连鑫，杨理践，耿浩，等. 基于管道漏磁内检测的缺
[3] FESCENKO I，JARMOLA A，SAVUKOV I，et al.
Diamond magnetometer enhanced by ferrite flux 陷解析方法[J]. 无损检测，2023，45（5）：46-50．
concentrators[J]. Physical Review Research，2020，2（2）： [14] 高扬，徐超群，黄魁，等. 激光与微波功率对金刚石NV
023394． 色心磁强计ESR谱线的影响研究[J]. 北京理工大学学
[4] WANG P F，CHEN S Y，GUO M S，et al. Nanoscale 报，2021，41（11）：1222-1225．

12
2024 年 第 46 卷 第 8 期
无损检测