Page 136 - 无损检测2023年第十期
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气孔检出率更高。 测量，这时需要改变步进偏移，直到尖端衍射出现。
（3）PCI 对被动孔径方向指示不敏感。 （3）由于消除了几何机构回波，PCI 不适
（4）PCI 成像可以消除来自几何结构的伪 合腐蚀缺陷或复合材料缺陷检测。
影，因此在进行 L0 纵波检测时，更适合检测靠 （4） PCI 不能很好地检测出靠近表面的缺陷。
近根部的小缺陷。 Eddyfi Technologies 将为 Mantis™、
（5）由于基于尖端衍射进行测量，PCI 成 Gekko® 和 Topaz® 产品线推出 PCI 检测技术，
像可对缺陷进行定量，而无需校准。 可以使用多组配置同时执行 TFM 和 PCI，并将
3.2 PCI 技术劣势 其与 PWI 技术相结合以实现更快的检测和采集，
（1）由于 PCI 成像的信噪比取决于激发 - 从而满足用户更多的检测应用需求，并提供评估
接收阵元的数量，建议使用全矩阵采集，这将导 分析技术。
致扫查速度变慢，特别是当从焊缝两侧同时进行
检测时尤为明显。PCI 和 PWI 的组合是可以使用
的，但检测人员必须调整好角度的数量，以获得
良好的信噪比。
（2）对于一些表面光滑缺陷，如未熔合， 图迈检测技术（成都）有限公司 供稿
可能发现不了尖端衍射信号，从而无法进行尺寸 2023 年 4 月
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