Page 132 - 无损检测2023年第十期
P. 132

厙宒陙㐒




              获得与真实计算相位相似的结果。转换后 FMC                             过合计所有这些相位符号,即获得了一个较高的
              矩阵的每个信号都将被其符号函数替换,因此每                              PCI 值。
              个数据点将变成 1 或 -1。

                   PCI 图像计算过程与 TFM 图像相似,首先
              计算从激发阵元 E i       到像素点 P 再返回到接收阵元
                             ,然后对该特定信号提取对应于
              R j  的声程时间 t ij
              该声程时间的相位 Ø ij  ;对 FMC 矩阵的所有信号
              (转换为符号格式)重复该过程;对所有这些相
              位相加求和,得到 PCI 图像中该像素点的相位;                                图 3  横通孔强度最大值的像素点成像结果示例
              最后对所有像素点重复整个过程,以获得整个                                    选取一个位于底波中间的像素点,采用相同
              PCI 图像。                                            的方法,显示在激发第一个阵元后获得的 B 扫描
              1.2 PCI 图像强度                                       以及从阵元 1 到底波中间再返回给所有接收阵元

                   比较有 3 个 横 通 孔(SDH)缺陷试件的                       的声程时间(标记为红 X);接下来观察红色 X
              PCI 图像和 TFM 图像(见图 2),可以观察到 :                       位置,可以看到其只有在最后一个接收阵元(红
              ① PCI 几乎消除了表面波和底波;② 3 个 SDH                        色矩形位置)上才具有相同的相位(见图 4)。

              的 PCI 幅值是相同的;③ PCI 图像中的噪声级别
              更高。







                                                                         图 4  底波中间的像素点成像结果示例

                                                                      当处理几何结构回波时,如表面波和底波,
                                                                 大多数对称路径有助于 PCI 成像。在其他所有不
                                (a)TFM 图像                        对称路径上将产生一个非相干的和,也就说表面
                                                                 波和底波在 PCI 成像中强度值较低。当然对于其
                                                                 他镜面反射体来说也是一样的,比如分层或未熔
                                                                 合,这取决于其相对于探头的位置。
                                                                      当处理振幅信号时,信噪比的高低与缺陷或
                                                                 指示的性质相关(底波 , 未熔合等)。向工件激
                                                                 发的能量越大(如提高模拟增益),TFM 图像
                                                                 的信噪比就越高。而对于相位信号,即使向工件
                                (b) PCI 图像                       发送更大的能量,噪声也只会像指示的相位一样

                图 2  含横通孔缺陷试件的 TFM 图像和 PCI 图像对比                  在 -1 到 1 之间变化。如果考虑一个均值为零的高
                                                                 斯噪声,发射 - 接收阵元对越多,信噪比就越高。
                   那为什么在 PCI 图像中横通孔的强度高,而
                                                                 因此建议使用更多的阵元(如全矩阵采集或稀疏
              几何结构强度低的现象呢?以第一个横通孔中强
              度最大值的像素点的成像结果为例(见图 3)进                             矩阵采集)。
              行说明。在图 3 中,显示了 FMC 矩阵的第 1 列,                            因为噪声是 -1 和 1 的总和,理论上 PCI 图
              即激发第一个阵元后接收到的 64 组 A 扫描信号,                         像的信噪比可以用二项分布来描述。对一个 500 k
              由此叠加从阵元 1 到横通孔 1 再到所有接收阵元                          像素点的 PCI 图像,使用二项分布来统计全矩阵
              的声程时间(图中标记为红 X),可以看到,红                             采集(4 096 个信号)和稀疏矩阵采集(1024 个
              X 所在位置的所有接收阵元的信号相位相同,通                             信号)的整个图像的噪声等级分布,结果表明,
                                                                 FMC 的噪声优于 6%,16 次激发的稀疏噪声优
               94
                     2023 䎃  痦45 ⽷ 痦10 劍
                     偽䰀唬崵
   127   128   129   130   131   132   133   134   135   136   137