Page 39 - 无损检测2023年第二期
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代彦明, 等:
锥束 CT 工艺参数对成像质量的影响
图6 不同积分时间下扫描试样的二维断层图像( 左图)
图5 不同投影数量下扫描试样的二维断层图像( 左图) 及灰度分布曲线( 右图)
及灰度分布曲线( 右图) 观察图6可以看出, 在250 , 500 , 1000ms积分
素对比试验工艺参数如表5所示。 时间下扫描试样的二维断层图像的清晰度、 对比度
按照表5的扫描参数对试样进行扫描后, 得到 以及“ 杯状伪影” 均没有明显区别, 表明积分时间对
的不同积分时间下扫描试样的二维断层图像及灰度 成像质量的影响不明显, 扫描时只需选择合适的积
分布曲线如图6所示。 分时间保证探测器不欠曝和不过曝即可。
表5 积分时间因素对比试验工艺参数
工艺参数
项目
/
积分时间 / ms 电压 / kV 电流 / A S OD mm 焦点尺寸 / m 体素尺寸 / m 投影数量 / 张
μ
μ
μ
试验1 250 90 1555 1000 140 200 350
试验2 500 90 1555 1000 140 200 350
试验3 1000 90 1555 1000 140 200 350
2.7 Binnin g 模式对图像质量的影响
蔡司 METROTOM1500型锥束 CT 系统探测
器的 Binnin g 模式有1×1和2×2两种, 分别在两
种模式下扫描试样, 得到的二维断层图像及灰度分
布曲线如图7所示。
观察图7可以看出, 两种模式下获得的试样二
维断层图像中均能显示试样中的缺陷信息, 但1×1
模式下的图像清晰度明显更高, 具有良好的细节分
辨率, 可见探测器像素模式在高分辨模式下扫描能
够明显提高图像的质量, 该结果适用于小型试样内
部结果的分析应用。
图7 不同 Binnin g 模式下扫描试样的二维断层图像( 左图)
3 结论 及灰度分布曲线( 右图)
采用控制变量法, 对不同的检测工艺参数进行 质量的影响, 得出以下结论。
对比试验, 研究了锥束 CT 检测的工艺参数对成像 ( 下转第11页)
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2023年 第45卷 第2期
无损检测
