Page 109 - 无损检测2024年第十二期
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王 鹏，等：
基于多频技术的涡轮叶片涡流检测边缘效应抑制
个边缘效应得到的信号幅值和相位均不相同。
使用仪器的混频功能，选中边缘效应的信号，然
后对其进行混频。混频后的信号如图11所示，可以
看出，在对边缘效应的信号进行混频处理后，边缘效
应信号得到了很好的抑制，残差信号非常小。
图 13 混频后的 C 缺陷涡流检测信号
图 11 混频后的边缘效应信号
3.2 抑制边缘效应后的缺陷检测
在对边缘效应的信号进行抑制后，重新对B缺
陷进行检测，检测结果如图12所示，可以看出，在使
用混频对边缘效应信号进行抑制后，边缘效应信号
的幅值显著降低，提高了对缺陷的检测能力，能够明
显地分辨出B缺陷的信号。 图 14 混频后的 D 缺陷涡流检测信号
由表1可知，B，D两缺陷大小相等，与边缘距离
分别为5 mm和3 mm，对比图12与图14，可以看出
经混频抑制后，D缺陷中的边缘效应残差信号大于
B缺陷中的。说明距离边缘越近，对边缘效应的混
频抑制效果越差，但还能正常检测出B、D两个缺陷。
采用混频技术后对A缺陷进行检测，检测结果
如图15所示。
图 12 混频后的 B 缺陷涡流检测信号
在对边缘效应的信号进行抑制后，对C缺陷进
行检测，检测结果如图13所示。
由表 1 可知，B，C两缺陷与边缘距离相同，均
为5 mm，B缺陷长度是C缺陷的两倍。对比图12与
图13的检测信号，可以看出对边缘效应进行混频抑
制后，B缺陷的信号幅值大于C缺陷的。即，在其他
条件相同时，缺陷尺寸越大，信号幅值越大，且混频 图 15 混频后的 A 缺陷信号
抑制之后，对于B，C两个缺陷均有较好的检测效果。 对比图15与图7，可以看出在使用混频抑制边
在对边缘效应的信号进行抑制后，对D缺陷进 缘效应信号后，A缺陷信号与抑制前基本相同，从而
行检测，检测结果如图14所示。 验证了使用混频抑制边缘效应信号的有效性。
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2024 年 第 46 卷 第 12 期
无损检测
