Page 146 - 无损检测2024年第十一期
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检测案例




                                                                 PCI 技术对狭窄型和点状反射体的敏感性更强,
                                                                 缺陷边缘的细节也呈现得更加清晰。即使声波入
                                                                 射微小裂纹的方向不理想,无法获得高振幅的缺
                                                                 陷反射信号,但尖端衍射信号具有相位相干性,
               (e) PCI 检出的根部缺陷        (f) PCI 检出的侧壁未熔合           PCI 图像中仍然能够清晰地显示缺陷。

                   图 4  3 种技术检测得到的焊缝根部缺陷和侧壁未熔合                        总而言之,PCI 技术的优势在于无振幅特性。
                                   图像                            对于声衰减大、声波难以穿透的工件或材料(通
                                                                 常具有高水平的背景噪声),PCI 技术通过对比
              3  结论                                              缺陷端点衍射信号与混沌噪声的相位相干性,更

                   由以上试验结果可得出 PCI 技术具有以下优                        容易发现隐藏在背景噪声中的缺陷信号,与传统
              势。                                                 PAUT 和 TFM 技术相比,具有更高的信噪比。
                   (1)能避免信号饱和问题。缺陷信号饱和
              是常规 PAUT 和 TFM 技术中经常碰到的问题。
              由于真实缺陷与校准试块中的反射体具有不同的                              参考文献:
              尺寸、类型和方向,当使用基于振幅技术检测时,
                                                                 [1] 齐敬春,王明鹏 . 碳钢内衬镍基复合管材的特
              某些缺陷将不可避免地达到饱和。但在 PCI 技术                           性及应用 [J]. 中国建材科技,2005(3):23-
              中,信号饱和将不再是问题,PCI 是对图像中特                            25.
              定点的原始 A 扫描数据的分布一致性的统计方差,
              其值不可能超过 100%,因此即使原始 A 扫描数                          [2]  李江,刘吉贵,孙小磊,等 .PAUT 在 CRA
              据的信号幅值饱和,最终呈现的 PCI 数据并不受                           材料焊缝的灵敏度校准方法 . 焊接技术,2017
              影响。                                                (11):82-85.
                   (2)校准过程更简便。由于 PCI 技术与振
              幅无关,因此校准试块中的已知反射体时,调节
              增益成为可选的步骤。事实上,因为信号的振幅
              并不会影响最终的 PCI 数据,配备 PCI 技术的仪                           仪景通光学科技(上海)有限公司北京分公司
              器甚至可以关闭增益调节功能。                                                                              供稿
                   (3)对缺陷端点和边缘的衍射非常敏感。                                                             2023 年 4 月
































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                     2024 年  第46 卷 第11 期
                     无损检测
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