Page 119 - 无损检测2022年第十一期
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新锐产品
2022 年度 NDT 设备新锐
仪景通光学科技（上海）有限公司 常规的挑战案例中，比全聚焦和相控阵提供更好
仪器名称：相控阵探伤仪 OmniScan X3 64 的结果，同时对一些真实缺陷，特别是比较难
检的缺陷（非机械加工）的检测效果更好。使用
主要参数： PCI 技术检测真实焊缝试样（特别是不锈钢）中
OmniScan™ X 3 缺陷，高温氢致损伤（HTHA），应力腐蚀开裂
64:128PR，带相位相 （SCC）或者其他试样中的小自然缺陷时，有较
干成像（PCI）功能。 好的效果；
开发背景 :
使 用 信 号 相位 信息 的 全 新 技 术， 全 新的
FMC 数据处理算法，在 X3 64：128PR 设备上
机载实现。同时收集反射和衍射信号的相位信息，
因而像 TOFD 一样受方向性的影响更小，PCI 技
术与其他技术相比，可以显示更多缺陷信息，包
括尺寸和缺陷形状等。 • 大反射体附近的小反射体。通常，PCI 对小的
反射体有效（小裂纹，HTHA，气孔等），尤其
改进或创新点：
是这些小缺陷在靠近大的平面反射体附近时更加
• 采用的技术与振幅无关，不会使信号过饱和， 明显，因为这些大的平面反射体在 PCI 里面更加
没有增益调节功能； 不明显；
• 无需使用参考反射体调整增益，使用 AIM 工具
进行波形模式选择即可；
• 在多次检测之间能得到更加一致的结果，因为
在数据采集和分析过程中需要调节的参数更少；
• 小缺陷有更高的相干性反应，在相同的工件覆 • 高噪声粗晶材料或高衰减材料。PCI 需要在噪
盖要求下，只需更少的组数； 声条件下才有效，因而对于高噪声材料，其比常
规方法拥有更好的性能。
• 缺陷具有更高的信号相关性，端点衍射信号明
显，可用于精确的缺陷尺寸测量；
• 在大反射体附近的缺陷信号有更好的成像，比
如底波附近；
• 尺寸定量更加容易，操作设置更少。
典型应用：
• 小缺陷，比如氢致损伤，PCI 技术可以在许多
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2022 年 第44 卷 第11 期
无损检测
