Page 141 - 无损检测2021年第七期

专利精选

一种用于检测复合材料的射线试块 用于从结构的一侧执行反向散射三维成像的
申请号: CN202020958019.8 系统和方法
申请日: 2020.05.29 申请号: CN201610582769.8
公开( 公告) 号: CN212459468U 申请日: 2016.07.21
公开( 公告) 日: 2021.02.02 公开( 公告) 号: CN106466187B
IPC 分类号: G01N23 / 04 公开( 公告) 日: 2021.03.05
申请( 专利权) 人: 上海市特种设备监督检验技术研 IPC 分类号: A61B6 / 02 ; A61B6 / 00
究院 申请( 专利权) 人: 波音公司
发明人:丁 菊; 袁奕雯; 刘书宏; 许金沙 发明人: 加里 · E · 乔治森; 莫尔塔扎 · 萨法伊

摘要: 该实用新型的技术方案提供了一种用于检测 摘要: 提供了一种用于使用 X 射线从结构的一侧反
复合材料的射线试块, 其特征在于, 包括一层覆层试 向散射来生成三维图像数据的成像系统和方法。该
块和多层基层试块和通用槽型对比试块, 覆层试块 成像系统包括至少一个 X 射线源、 耦接至至少一个
和基层试块由不同的材料组成, 覆层试块设置在基 X 射线源的至少一个旋转准直器、 X 射线检测器、 以
层试块的上部, 通过槽型对比试块可以根据射线检 及耦接至至少一个 X 射线源、 至少一个旋转准直器
测的需要设置在覆层试块上部或者基层试块的上部 和 X 射线检测器的控制器。该控制器被配置为通
和下部。该实用新型能用于复合材料的检测, 并能 过至少一个旋转准直器从至少一个 X 射线源向结
够进一步确定缺陷出现的位置。避免缺陷只出现在 构的一侧发射 X 射线。此外, 控制器被配置为使用
单侧结构即完全返修的情况, 阻止了破坏复合层的 X 射线检测器从结构的一侧检测结构内的多个深度
结合面性能, 避免浪费资源。 处的反向散射的 X 射线。此外, 控制器被配置为基
于检测的反向散射的 X 射线生成结构的三维图像
数据。
一种非导电性产品结构缺陷无损检测的方法
申请号: CN201810499054.5
申请日: 2018.05.23 一种脉冲远场涡流检测探头及使用方法
公开( 公告) 号: CN108918557B 申请号: CN202011319128.6
公开( 公告) 日: 2021.02.09 申请日: 2020.11.23
IPC 分类号: G01N22 / 02 公开( 公告) 号: CN112229904A
申请( 专利权) 人: 哈尔滨理工大学 公开( 公告) 日: 2021.01.15
发明人: 许家忠; 郑学海; 田建德; 刘新良; 刘宝权 IPC 分类号: G01N27 / 90
摘要: 该发 明 涉 及 一 种 非 导 电 性 产 品 结 构 缺 陷 无 申请( 专利权) 人: 南昌航空大学
损检测的方法。现有技术需要破坏产品形状检测 发明人:付跃文; 邢仁飞; 黄文丰; 陶爱军; 杨 帆;

内部结构缺 陷, 非 破 坏 性 X 射 线 检 测 技 术 应 用 范 余兆虎
围有局限性。该发明的方法通过微波热成像技术 摘要: 该发明公开了一种脉冲远场涡流检测探头及
间接地将产品内部结构缺陷成像检 测出来。将低 使用方法, 激励线圈和检测线圈置于同一中心轴线
频微波均匀照射在产品表面, 微波穿过产品内部, 上, 激励线圈与检测线圈之间安装有非金属骨架; 激
受到结构 不 一 致 性 影 响, 在 背 面 贴 附 的 微 波 吸 收 励线圈与脉冲信号发射机连接; 检测线圈与检测信
加热箔纸 会 产 生 不 均 匀 性 加 热 程 度, 通 过 红 外 摄 号接收机连接; 同时进行差分式通道和绝对式通道
像头将内 部 结 构 分 布 转 化 为 热 度 分 布 图 像, 然 后 的检测, 使用探头体对被检管道进行内穿式检测, 通
由图像处理算法将热度分布图像转化为结构缺陷 过计算机将采集到的衰减电压数据, 绘制出绝对式
特征显示 在 计 算 机 显 示 器 上, 以 提 供 检 测 人 员 判 通道和差分式通道的归一化电压衰减曲线图, 以及
别是否存在结构缺陷的依据。采用该发明的检测 归一化电压时间剖面曲线图, 判断缺陷的存在情况
方法可以达 到 X 射 线 成 像 方 法 的 高 分 辨 率 水 平, 与缺陷类型。该发明综合了绝对式探头和差分式探
并且检测安全性高, 对检测人员无辐射危害。 头的检测特点, 使探头对不同类型缺陷均具有较好
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2021 年 第 43 卷 第 7 期

无损检测