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基于电子错位散斑理论的应变检测技术

刘战捷

刘战捷. 基于电子错位散斑理论的应变检测技术[J]. 无损检测, 2007, 29(3): 121-124.
引用本文: 刘战捷. 基于电子错位散斑理论的应变检测技术[J]. 无损检测, 2007, 29(3): 121-124.
LIU Zhan-jie. Measurement of Strain Based on Electronic Shearing Speckle Pattern Interferometry[J]. Nondestructive Testing, 2007, 29(3): 121-124.
Citation: LIU Zhan-jie. Measurement of Strain Based on Electronic Shearing Speckle Pattern Interferometry[J]. Nondestructive Testing, 2007, 29(3): 121-124.

基于电子错位散斑理论的应变检测技术

详细信息
    作者简介:

    刘战捷(1961-),男,研究员级高工,主要从事无损检测工作。

  • 中图分类号: TG115.28

Measurement of Strain Based on Electronic Shearing Speckle Pattern Interferometry

  • 摘要: 介绍了基于电子错位散斑理论的应变检测技术,并采用统计光学的方法对散斑现象进行了分析,与传统光学的分析方法相比,该方法可以对电子散斑干涉行为有更深入的理解。最后提出应变检测所需要的主要数学计算方法。
    Abstract: A review of strain measurement based on electronic shearing speckle pattern interferometry(ESSPI) was presented. Some concepts on speckle pattern were addressed on the basis of speckle statistic optics, which was superior to traditional optics in understanding speckle interfering behavior. Finally, strain measurement formula was derived.
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-11-22
  • 刊出日期:  2007-03-09

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