• 中国科技论文统计源期刊
  • 中文核心期刊
  • 中国科技核心期刊
  • 中国机械工程学会无损检测分会会刊
高级检索

高分辨力印制电路板X射线检测系统

曲肇文, 王明泉, 王 玉

曲肇文, 王明泉, 王 玉. 高分辨力印制电路板X射线检测系统[J]. 无损检测, 2010, 32(6): 438-440.
引用本文: 曲肇文, 王明泉, 王 玉. 高分辨力印制电路板X射线检测系统[J]. 无损检测, 2010, 32(6): 438-440.
QU Zhao-Wen, WANG Ming-Quan, WANG Yu. High Resolution Printed Circuit Board X-Ray Examination System[J]. Nondestructive Testing, 2010, 32(6): 438-440.
Citation: QU Zhao-Wen, WANG Ming-Quan, WANG Yu. High Resolution Printed Circuit Board X-Ray Examination System[J]. Nondestructive Testing, 2010, 32(6): 438-440.

高分辨力印制电路板X射线检测系统

基金项目: 

山西省青年科技研究基金资助项目《基于工业CT的三维数据场可视化》(2009021019-2)

详细信息
    作者简介:

    曲肇文(1982-), 男, 硕士研究生, 主要研究方向为图像处理算法、射线图像处理和机器视觉。

  • 中图分类号: TN202; TG115.28

High Resolution Printed Circuit Board X-Ray Examination System

  • 摘要: 为了解决印制电路板(PCB)缺陷检测数字化成像问题, 设计了一套高分辨力印制电路板X射线缺陷检测系统。通过分析射线源焦点尺寸对成像效果的影响, 计算出最佳几何放大倍数; 对MCP-X增强器性能进行了分析, 推导出增强器分辨力与几何放大倍数的关系, 以此计算出系统综合分辨力。根据试验可知, 系统实现了对缺陷特征值的测量, 同时对电路板BGA器件中焊点缺陷测量的最小分辨力达到0.03 mm, 完成了BGA器件不可见焊点缺陷检测要求。
    Abstract: In order to solve the problem of digital radiography for printed circuit board(PCB) defect inspection, an examination system was introduced for PCB defect inspection with high resolution X-ray. Through analysing the influence of the focus size of X-ray source to imaging formation, the best geometrical magnification was got. Analysing on performance of MCP-X intensifier, the relationship between the resolution of intensifier and geometrical magnification was deduced, and then we could calculate the comprehensive resolution of this system. Through the examination, it was concluded that, the system realized the measurements on defect character, the measuring accuracy to the BGA solder joint of circuit board was reached to 0.03 mm, meeting the request of inspection on invisible solder joint.
  • [1] 孙忠诚, 靳树永, 孙茂林.图像增强器式线阵列X射线数字成像系统[J].无损检测, 2009, 34(4): 269-276.
    [2] 潘俊杰, 赵宝升, 赛小锋, 等.影响X射线像增强器分辨力的因素分析[J].光子学报, 2008, 37(6): 1116-1118.
    [3] 郑玉权, 王慧.微型X射线数字成像系统[J].光学精密工程, 2008, 16(4): 591-597.
    [4] 王华.X射线数字成像系统及其应用[J].计测技术, 2005, 25(6): 5-8.
    [5] 喻春雨, 常本康, 魏殿修.新型X光成像系统及其性能分析[J].仪器仪表学报, 2007, 28(1): 150-153.
    [6] 程耀瑜, 韩焱, 王明泉, 等.基于射线增强器和视频相机的数字成像检测系统研制[J].华北工学院测试技术学报, 2001, 15(4): 209-213.
计量
  • 文章访问数:  2
  • HTML全文浏览量:  0
  • PDF下载量:  1
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2009-07-19
  • 刊出日期:  2010-06-09

目录

    /

    返回文章
    返回