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金属磁记忆检测技术研究现状与发展前景

任吉林, 林俊明, 任文坚, 宋凯

任吉林, 林俊明, 任文坚, 宋凯. 金属磁记忆检测技术研究现状与发展前景[J]. 无损检测, 2012, 34(4): 3-10.
引用本文: 任吉林, 林俊明, 任文坚, 宋凯. 金属磁记忆检测技术研究现状与发展前景[J]. 无损检测, 2012, 34(4): 3-10.
REN Ji-Lin, LIN Jun-Ming, REN Wen-Jian, SONG Kai. Metal Magnetic Memory Testing Technology Development Status and Prospects[J]. Nondestructive Testing, 2012, 34(4): 3-10.
Citation: REN Ji-Lin, LIN Jun-Ming, REN Wen-Jian, SONG Kai. Metal Magnetic Memory Testing Technology Development Status and Prospects[J]. Nondestructive Testing, 2012, 34(4): 3-10.

金属磁记忆检测技术研究现状与发展前景

基金项目: 

国家自然科学基金资助项目(51065022)

详细信息
    作者简介:

    任吉林(1949-),男,教授,主要从事电磁无损检测技术的研究。

  • 中图分类号: TG115.28

Metal Magnetic Memory Testing Technology Development Status and Prospects

  • 摘要: 金属磁记忆检测技术可以检测金属构件上以应力集中为特征的危险区域,对这一技术的深入研究有望解决构件损伤早期诊断与寿命预测中的关键问题。概述了金属磁记忆检测的原理和应用范围,归纳了磁记忆检测的国内外研究现状,提出了目前磁记忆检测技术亟待研究的关键性问题以及磁记忆检测技术的未来发展方向。
    Abstract: The metal magnetic memory testing(MMMT) can detect the stress concentration zone of ferromagnetic metal components. The technology researches were hopeful that solving the key of the components early diagnosis and life-time prediction. This paper introduces the metal magnetic memory testing principles and applications, analyzes the magnetic memory testing research situation in domestic and foreign, proposes the inadequacies on MMMT researches and the trend of MMMT development in the future.
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-11-10
  • 刊出日期:  2012-04-09

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