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GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测

钟飞, 张晓春, 黄升平, 张梦岑, 王冲, 聂铭, 李顺华, 刘国特

钟飞, 张晓春, 黄升平, 张梦岑, 王冲, 聂铭, 李顺华, 刘国特. GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测[J]. 无损检测, 2018, 40(1): 45-49. DOI: 10.11973/wsjc201801011
引用本文: 钟飞, 张晓春, 黄升平, 张梦岑, 王冲, 聂铭, 李顺华, 刘国特. GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测[J]. 无损检测, 2018, 40(1): 45-49. DOI: 10.11973/wsjc201801011
ZHONG Fei, ZHANG Xiaochun, HUANG Shengping, ZHANG Mengcen, WANG Chong, NIE Ming, LI Shunhua, LIU Guote. The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator[J]. Nondestructive Testing, 2018, 40(1): 45-49. DOI: 10.11973/wsjc201801011
Citation: ZHONG Fei, ZHANG Xiaochun, HUANG Shengping, ZHANG Mengcen, WANG Chong, NIE Ming, LI Shunhua, LIU Guote. The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator[J]. Nondestructive Testing, 2018, 40(1): 45-49. DOI: 10.11973/wsjc201801011

GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测

基金项目: 

南方电网科技资助项目(GDKJ00000035)

详细信息
    作者简介:

    钟飞(1979-),男,博士,高级工程师,主要从事电力器材和材料的无损检测工作

    通讯作者:

    钟飞, E-mail:zhongfei@emails.bjut.edu.cn

  • 中图分类号: TG115.28

The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator

  • 摘要: 利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测,在不拆解和破坏GIS (气体绝缘全封闭组合电器)设备的情况下,实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测;利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置,减少了试验次数,提高了试验效率。结果表明,X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷。
    Abstract: In this paper, X-DR imaging technology is applied to the visualization nondestructive testing of basin-type insulator. Without dismantling and destroying the GIS device, it can realize the radiography and defect detection of basin-type insulator. The optimal parameters of the X-ray machine are found by orthogonal test method, which can greatly reduce the number of experiments and improve the efficiency of the experiment. The results show that the X-DR imaging technology can be used to identify the cracks and bubble defects of the basin-type insulator.
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出版历程
  • 收稿日期:  2017-05-28
  • 刊出日期:  2018-01-09

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